[发明专利]晶体RPP电性能参数测试分选装置及分选方法在审
申请号: | 201610202514.4 | 申请日: | 2016-04-01 |
公开(公告)号: | CN105642567A | 公开(公告)日: | 2016-06-08 |
发明(设计)人: | 狄建兴;张勇;周志勇 | 申请(专利权)人: | 唐山国芯晶源电子有限公司 |
主分类号: | B07C5/344 | 分类号: | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36 |
代理公司: | 唐山永和专利商标事务所 13103 | 代理人: | 张云和 |
地址: | 064100 河北*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 晶体 rpp 性能参数 测试 分选 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种晶体参数测试装置,具体的说,是涉及一种晶体RPP电性能参数测试分选装置。
背景技术
现有的晶体电性能参数自动测试分选设备,无法测量晶体2引线之间的绝缘性,即客户要求的RPP(Resistancepin-to-pin的缩写)参数测试,只能测量晶体2引线与外壳之间的绝缘电阻,所以需开发制造能够自动测试RPP晶体电参数同时实现自动分选的设备。
发明内容
针对上述现有技术中的不足,本发明提供一种结构合理、测试精度高、操作方便,提高生产效率的晶体RPP电性能参数测试分选装置。
本发明所采取的技术方案是:
一种晶体RPP电性能参数测试分选装置,包括送料装置、测试装置、分选装置和控制装置,
送料装置包括:
振动盘,振动盘出料口设置有倾斜的送料轨道,轨道设置有导向槽;导向槽前方依次设置有前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针,所述前挡针和底部挡针设置在导向槽左侧;前挡针和下挡针设置在导向槽的右侧;所述前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针通过连接杆与挡料汽缸相连接;
测试装置包括:
设置在送料轨道左侧设置有测试头,测试头后部与测试头汽缸相连接;测试头前端设置有弹片,弹片通过线缆与绝缘电阻测试仪相连接;
绝缘电阻测试仪与控制装置主机相连接;
控制装置主机分别与分选气缸、送料气缸和测试头气缸相连接;
所述送料轨道下方设置有合格产品料盒和不合格产品料盒;
分选装置包括分选气缸,分选气缸前端连接有分选轨道;
合格产品料盒设置在送料轨道正下方;不合格产品料盒设置在送料轨道左侧下方。
一种晶体RPP电性能参数测试分选装置,包括送料装置、测试装置、分选装置和控制装置,送料装置包括:
振动盘,振动盘出料口设置有倾斜的送料轨道,轨道设置有导向槽;导向槽前方依次设置有前挡针、中挡针、下挡针和底部挡针,所述前挡针和底部挡针设置在导向槽左侧;前挡针和下挡针设置在导向槽的右侧;
所述前挡针与前挡针气缸相连接、中挡针与前挡针气缸相连接、下挡针与前挡针气缸相连接、底部挡针与前挡针气缸相连接;
测试装置包括:
设置在送料轨道左侧设置有测试头,测试头后部与测试头汽缸相连接;测试头前端设置有弹片,弹片通过线缆与绝缘电阻测试仪相连接;
绝缘电阻测试仪与控制装置主机相连接;
控制装置主机分别与分选气缸、送料气缸和测试头气缸相连接;
所述送料轨道下方设置有合格产品料盒和不合格产品料盒;
分选装置包括分选气缸,分选气缸前端连接有分选轨道;
一种晶体RPP电性能参数测试分选方法,包括如下步骤:
a、将待测产品放入振动盘;振动盘将待测产品送入送料轨道;待测产品沿送料轨道向下滑动;
b、送料轨道中部设置有上挡针,上挡针将待测产品拦截;
c、上挡针向右侧移动,待测产品向下移动;上挡针下方设置有中挡针,中挡针向右侧移动拦截待测产品;
d、中挡针向左侧移动;下挡针向右侧移动;待测产品向下移动;下挡针拦截待测产品;
下挡针向右侧移动,待测产品向下移动,底部挡针向左侧移动,底部挡针拦截待测产品;
e、测试头汽缸动作使弹片分别和晶体个引线接触;绝缘电阻测试仪电极对晶体引线进行放电测试,绝缘电阻测试仪将测试结果信号输出给控制主机;
f、控制主机发出动作指令给分选汽缸,如果产品合格,分选汽缸不动作,测试头汽缸退回左位,挡料汽缸移到左位,底部挡片向左移动,产品落入成品盒;如果产品不合格,分选汽缸动作,推动分选轨道移到右位,测头汽缸退回左位,同时放料、挡料汽缸移到右位,产品落入分选轨道经过分选轨道落入废品盒。
本发明相对现有技术的有益效果:
本发明晶体RPP电性能参数测试分选装置,结构合理、测试精度高、操作方便,提高分选效率,降低分选费用,提高产品合格率,提高生产效率。
附图说明
图1是本发明晶体RPP电性能参数测试分选装置立体结构示意图;
图2是本发明晶体RPP电性能参数测试分选装置的送料轨道结构示意图;
图3是本发明晶体RPP电性能参数测试分选装置的测头在测试位示意图;
图4是本发明晶体RPP电性能参数测试分选装置的测头在左位示意图;
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