[发明专利]一种熔接三通接头的自动密封性能测试设备有效
申请号: | 201610191081.7 | 申请日: | 2016-03-30 |
公开(公告)号: | CN105675233B | 公开(公告)日: | 2017-12-19 |
发明(设计)人: | 王国良;王楠 | 申请(专利权)人: | 王国良 |
主分类号: | G01M3/28 | 分类号: | G01M3/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 311835 浙江省绍*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 熔接 三通 接头 自动 密封 性能 测试 设备 | ||
技术领域
本发明涉及密封性能测试机领域,尤其涉及一种熔接三通接头的自动密封性能测试设备。
背景技术
三通接头作为管件、管道连接件,一般用在主管道要分支管处,用于介质分流。工业用PE(聚乙烯)三通接头的支口管通常是通过管件熔接而成,熔接处可能会因为熔接温度、对接不平整等原因,出现泄漏情况,且三通接头泄露集中发生在熔接处。而它作为燃气管网重要的管道连接件,出现泄漏会有较大的安全隐患,因此使用前要求以压缩气体为介质进行密封性能试验。
目前,三通接头进行密封性能试验通常采用水泡法和气压传感器监控法,采用气压传感器监控法,往往对三通接头三个出口进行封堵,内部空腔加压到预设值后保压,通过气压传感器监控内部气压变化,判断空腔内气压是否降低,三通是否泄漏。但是有些三通接头体积较大,如果只在三通接头三个出口处进行封堵,内部空腔会较大,微小泄漏对内部气压的影响较小,气压传感器容易发生误判。
发明内容
本发明为了解决大型号三通接头采用出口处封堵,内部空腔较大,气压传感器不易判断微泄露的问题,提出一种伸入三通接头内部、缩小测试空腔、提高气压传感器灵敏度的密封性能测试设备。
为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案:一种熔接三通接头的自动密封性能测试设备,包括一底座,所述的底座上设有一个三通接头的定位机构、一个密封性能测试机构、以及密封性能测试机构的推送机构;
所述的定位机构为一个横向放置的圆筒,圆筒的内径与三通接头的主管外径匹配,圆筒侧壁上沿圆筒方向开设有一条三通接头的支口管定位槽,所述的支口管定位槽往远离推送机构一端延伸至圆筒端面;
所述的推送机构包括限位板、支撑板、滑轨机构和支撑板驱动机构,所述的滑轨机构沿圆筒方向设置,所述的限位板两侧定位在滑轨机构的滑块上,与圆筒垂直设置,限位板朝圆筒一侧固定有支撑板,另一侧与支撑板驱动机构相连,支撑板通过支撑板驱动机构推送可伸至圆筒内部,所述的支撑板上设有密封性能测试机构;
所述的密封性能测试机构至少包括上端盖组件、下端盖组件、压环组件和端盖驱动机构;所述的上端盖组件分为上端盖和连轴,所述的上端盖和连轴都呈圆柱体且中心轴线重合,沿中心轴线剖视呈“T”字形;所述的下端盖组件由上往下依次为下端盖、连接部、以及主管内壁密封块,下端盖为与上端盖等外径的圆柱体,下端盖下端面通过连接部与主管内壁密封块的上端面相连,主管内壁密封块整体呈圆柱体,上端面为与三通主管内壁匹配的弧面,且下端盖与主管内壁密封块中心轴线重合,沿中心轴线剖视呈“工”字形;所述的主管内壁密封块上还设有至少一个测试气路通道;所述的下端盖组件沿中心轴线贯穿设有与上端盖组件的连轴匹配的通孔,连轴从上往下穿过下端盖组件的中心通孔,并与一块连接板固定,下端盖组件可滑动地限制在上端盖和连接板之间;所述的上端盖和下端盖相对面上都设有斜外缘部,两个斜外缘部形成密封圈的限位挤压槽,限位挤压槽内设有支口管密封圈;所述的主管内壁密封块的上端面上围绕中心轴线开设有一条环形的密封圈定位槽,密封圈定位槽内设有主管内壁密封圈;所述的主管内壁密封块外侧套设有压环组件,所述的压环组件下侧倒装有若干塞打螺栓,塞打螺栓贯穿连接板与压环组件固定,连接板和塞打螺栓之间滑动连接,连接板和压环组件之间的塞打螺栓上套设有弹簧;所述的下端盖组件通过若干连杆穿过连接板与端盖驱动机构相连,端盖驱动机构定位在推送机构的支撑板上。
作为优选,所述的压环组件上表面为与三通主管内壁匹配的弧面,在不测试状态,压环组件上表面高于主管内壁密封块上表面。
作为优选,所述的支撑板的下表面为与三通主管内壁匹配的弧面。
作为优选,所述的上端盖和下端盖相对面上的斜外缘部都为45°的倒角。
作为优选,所述的支撑板驱动机构和端盖驱动机构都是气缸。
因此,本发明具有如下有益效果:1、能够缩小测试空腔,提高测试精度;2、自动化运作、测试效率高;3、结构联动性强,制作成本低。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
图2是本发明另一角度的结构示意图。
图3是本发明密封性能测试机构的结构示意图。
图4是本发明密封性能测试机构另一角度的结构示意图。
图5是本发明密封性能测试机构的主视图。
图6是本发明密封性能测试机构使用前的剖视图。
图7是本发明密封性能测试机构使用时的剖视图。
图8是本发明使用前的结构示意图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于王国良,未经王国良许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610191081.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种容器泄漏检测装置和方法
- 下一篇:绝缘纸张力测量装置及测量方法