[发明专利]氮化镓肖特基二极管及其制作方法在审
申请号: | 201610178237.8 | 申请日: | 2016-03-25 |
公开(公告)号: | CN107230623A | 公开(公告)日: | 2017-10-03 |
发明(设计)人: | 刘美华;孙辉;林信南;陈建国 | 申请(专利权)人: | 北京大学;北大方正集团有限公司;深圳方正微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/335 | 分类号: | H01L21/335;H01L29/40;H01L29/872 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 | 代理人: | 陶敏,刘芳 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 氮化 镓肖特基 二极管 及其 制作方法 | ||
1.一种氮化镓肖特基二极管的制作方法,其特征在于,包括:
在硅衬底上依次生长氮化镓缓冲层和氮化铝镓势垒层;
在所述氮化铝镓势垒层上依次淀积氮化硅钝化层和氧化层;
对所述氧化层和所述氮化硅钝化层进行光刻刻蚀,形成阴极接触孔;
在所述氧化层的表面上采用磁控溅射方法溅射阴极金属;
对除所述阴极接触孔上的阴极金属之外的其他阴极金属进行光刻刻蚀,形成阴极;
对表面上未覆盖有阴极金属的所述氧化层和所述氮化硅钝化层进行光刻刻蚀,形成阳极接触孔和浮空场板接触孔;
在所述氧化层的表面上采用磁控溅射方法溅射阳极金属;
对除所述阳极接触孔和所述浮空场板接触孔上的阳极金属之外的其他阳极金属进行光刻刻蚀,形成阳极和浮空场板;
在所述氧化层的表面上进行电极开孔,形成氮化镓肖特基二极管。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述氧化层和所述氮化硅钝化层进行光刻刻蚀,形成阴极接触孔,包括:
对所述氧化层进行光刻刻蚀,形成第一开孔;
在所述第一开孔内对所述氮化硅钝化层进行刻蚀,形成阴极接触孔。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述对除所述阴极接触孔上的阴极金属之外的其他阴极金属进行光刻刻蚀,形成阴极,包括:
在所述阴极金属的表面上进行涂胶;
对除所述阴极接触孔上的阴极金属之外的其他阴极金属进行曝光显影刻蚀,形成阴极。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对表面上未覆盖有阴极金属的所述氧化层和所述氮化硅钝化层进行光刻刻蚀,形成阳极接触孔和浮空场板接触孔,包括:
对表面上未覆盖有阴极金属的所述氧化层进行光刻刻蚀,在所述氧化层表面上的中部形成第二开孔,在所述氧化层表面上的右端形成第三开孔;
在所述第二开孔内对所述氮化铝镓势垒层进行光刻刻蚀,形成浮空场板接触孔;
在所述第三开孔内对所述氮化铝镓势垒层进行光刻刻蚀,形成阳极接触孔。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对除所述阳极接触孔和所述浮空场板接触孔上的阳极金属之外的其他阳极金属进行光刻刻蚀,形成阳极和浮空场板,包括:
在所述阳极金属的表面上进行涂胶;
对除所述阳极接触孔和所述浮空场板接触孔上的阳极金属之外的其他阳极金属进行曝光显影刻蚀,形成阳极和浮空场板。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述氧化层为等离子体增强正硅酸乙脂氧化层。
7.一种氮化镓肖特基二极管,其特征在于,包括:
硅衬底、依次设置在所述硅衬底上的氮化镓缓冲层、氮化铝镓势垒层、氮化硅钝化层和氧化层;
所述氧化层和所述氮化硅钝化层上依次设置有阴极接触孔、浮空场板接触孔和阳极接触孔;
所述阴极接触孔内设置有阴极;所述浮空场板接触孔内设置有浮空场板;所述阳极接触孔内设置有阳极。
8.根据权利要求7所述的氮化镓肖特基二极管,其特征在于,所述氧化层为等离子体增强正硅酸乙脂氧化层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造