[发明专利]一种基于双栅晶体管的像素电路及其驱动方法有效
申请号: | 201610176182.7 | 申请日: | 2016-03-24 |
公开(公告)号: | CN105741779B | 公开(公告)日: | 2018-03-20 |
发明(设计)人: | 张盛东;王翠翠 | 申请(专利权)人: | 北京大学深圳研究生院 |
主分类号: | G09G3/3233 | 分类号: | G09G3/3233 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 | 代理人: | 郭燕,彭家恩 |
地址: | 518055 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 晶体管 像素 电路 及其 驱动 方法 | ||
技术领域
本申请涉及显示器技术领域,尤其涉及一种基于双栅晶体管的像素电路及其驱动方法。
背景技术
有源矩阵驱动有机发光二极管(Active Matrix Organic Light-Emitting Diode,OLED)因具有高亮度、高发光效率、宽视角和低功耗等优点,近年来被人们广泛研究,并被迅速应用到新一代的显示系统当中。传统的AMOLED像素单元是两个薄膜场效应晶体管(Thin Film Transistor,TFT)和一个存储电容的结构,如图1所示,其中T1管为驱动晶体管、T2为开关晶体管、CS为存储电容和OLED为发光器件。开关晶体管T2响应来自扫描控制信号线上的信号,采样来自数据线的信号,存储电容CS在开关晶体管T2关断后保存所采样的电压,驱动晶体管T1根据存储电容CS所存储的电压信号为OLED提供电流,该电流决定了OLED的亮度。根据TFT的电压电流公式,驱动电流IDS可以表示为:
其中,IDS为驱动晶体管T1的漏源电流,μn为薄膜场效应晶体管的有效迁移率,Cox为薄膜场效应晶体管单位面积的栅氧化层电容,W和L分别为薄膜场效应晶体管的有效沟道宽度和有效沟道长度,VG为薄膜场效应晶体管的栅极电压,VOLED为OLED两端的电压,与OLED的阈值电压相关,VTH为TFT的阈值电压。
虽然图1所示像素电路的结构简单,但随着时间的推移,其中的元件会老化,尤其是驱动晶体管T1和有机发光二极管OLED会老化,导致驱动晶体管T1和OLED的阈值电压都会产生漂移,且像素矩阵中各处像素单元的驱动晶体管T1和OLED的阈值电压漂移情况也是不一样的;另外,因薄膜场效应晶体管采用多晶硅材料制成,从而会导致像素矩阵中各个像素单元的驱动晶体管T1的阈值电压VTH具有不均匀的特性;以上两种情况,根据公式(1)可知,驱动电流IDS这时都会发生改变,这样就会造成像素矩阵显示的不均匀性。
针对驱动晶体管和OLED的阈值电压漂移和不均匀带来的像素矩阵显示不均匀的问题,目前提出了两类基于像素内补偿的方法:电流编程方案和电压编程方案。电流编程方案虽然补偿精度比较高,但建立时间长,特别是在小电流大寄生电容的情况下;电压编程方案虽然驱动速度快,但补偿精度不理想,电流误差随着阈值电压变化量的增大而增大。因此,希望TFT的稳定较好。
发明内容
本申请提供一种基于双栅晶体管的像素电路及其驱动方法。
根据本申请的第一方面,本申请提供一种基于双栅晶体管的像素电路,包括:
发光器件OLED,所述发光器件OLED的阳极连接于一内部节点B,发光器件OLED的阴极连接于一低电平线VSS;
驱动晶体管T1,所述驱动晶体管T1为双栅晶体管,用于驱动所述发光器件OLED发光;所述驱动晶体管T1的底栅极连接于一内部节点A,驱动晶体管T1的顶栅极连接于一内部节点C,驱动晶体管T1的源极连接于所述内部节点B;
开关晶体管T2,所述开关晶体管T2的栅极连接于阈值提取控制线VCOM,所述开关晶体管T2的漏极连接于驱动晶体管T1的漏极,开关晶体管T2的源极连接于所述内部节点C;
开关晶体管T3,所述开关晶体管T3的栅极连接于扫描控制线VSCAN,开关晶体管T3的漏极连接于数据显示线VDATA,开关晶体管T3的源极连接于所述内部节点A;
开关晶体管T4,所述开关晶体管T4的栅极连接于所述扫描控制线VSCAN,开关晶体管T4的漏极连接于一固定电平线VER,开关晶体管T4的源极连接于所述内部节点B;
开关晶体管T5,所述开关晶体管T5的栅极连接于发光控制线VEM,开关晶体管T5的漏极连接于高电平线VDD,开关晶体管T5的源极连接于驱动晶体管T1的漏极;
电容C1,其连接于所述内部节点A和B之间;
电容C2,其连接于所述内部节点B和C之间。
根据本申请的第二方面,本申请提供一种基于双栅晶体管的像素电路,包括:
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