[发明专利]一种机箱开盖侦测系统及实现方法在审
申请号: | 201610169929.6 | 申请日: | 2016-03-23 |
公开(公告)号: | CN105787397A | 公开(公告)日: | 2016-07-20 |
发明(设计)人: | 王宏;张小林;胡前锋 | 申请(专利权)人: | 深圳市亿威尔信息技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F21/86 | 分类号: | G06F21/86;G06F11/30 |
代理公司: | 深圳市康弘知识产权代理有限公司 44247 | 代理人: | 胡朝阳;孙洁敏 |
地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 机箱 侦测 系统 实现 方法 | ||
1.一种机箱开盖侦测系统,包括:机箱,设于机箱内的主板、毁钥开关、存储模块和电源,所述主板上设有控制存储模块工作状态的控制系统,其特征在于,所述机箱由顶部设有开口的箱体及可拆卸设于开口处的上盖构成,所述主板平铺固定在箱体底面上;
所述毁钥开关包括:开关座、设于开关座底部的焊脚、一端固定于开关座顶部的弹簧片、固定于弹簧片另一端顶部的滚珠、设于开关座顶部与弹簧片之间的切换开关,所述毁钥开关焊接在主板上,所述滚珠与上盖底面抵接,且所述弹簧片压紧切换开关;
所述上盖打开时,所述弹簧片向上远离切换开关,所述控制系统接收毁钥开关的切换信号,并控制存储模块擦除数据。
2.如权利要求1所述的机箱开盖侦测系统,其特征在于,所述弹簧片压紧切换开关时,所述毁钥开关输出为高电平,控制系统侦测到高电平为正常工作状态,控制系统控制所述存储模块储存数据;所述弹簧片向上远离切换开关时,所述毁钥开关输出为低电平,控制系统侦测到低电平为非正常状态,控制系统控制所述存储模块擦除数据。
3.如权利要求1或2所述的机箱开盖侦测系统,其特征在于,所述上盖底面设有与所述滚珠位置配合的舌片,所述滚珠与该舌片底面抵接。
4.如权利要求3所述的机箱开盖侦测系统,其特征在于,所述主板上并排设有两个毁钥开关。
5.如权利要求3所述的机箱开盖侦测系统,其特征在于,所述电源为开关电源,所述机箱外部设有连接该开关电源的电源开关。
6.一种如上述任一权利要求所述机箱开盖侦测系统的实现方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1、主板上安装控制系统、存储模块,将毁钥开关焊接到主板上;
步骤2、测试主板功能通过后,将电源、主板安装到箱体内,在箱体外安装电源开关;
步骤3、机箱内部器件安装走线完成,通电测试功能正常后,断电将上盖固定在箱体上;
步骤4、上电开机,此时机箱上盖已完全压到毁钥开关,毁钥开关输出高电平,控制系统侦测到高电平后,确认上盖未被打开,控制存储模块开始进行数据处理及储存;
步骤5、当机箱上盖被打开,上盖脱离毁钥开关,毁钥开关输出低电平,控制系统侦测到低电平后,确认上盖已被打开,控制存储模块开始擦除数据。
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