[发明专利]一种熔覆层侧向搭接方法和装置有效
| 申请号: | 201610160603.7 | 申请日: | 2016-03-21 | 
| 公开(公告)号: | CN105583522B | 公开(公告)日: | 2018-03-27 | 
| 发明(设计)人: | 石世宏;陆斌;石拓 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 | 
| 主分类号: | B23K26/342 | 分类号: | B23K26/342 | 
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人: | 常亮 | 
| 地址: | 215123 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 覆层 侧向 方法 装置 | ||
1.一种熔覆层侧向搭接的方法,其特征在于,包括:
获取熔覆层径向截面的轮廓信息;
根据所述轮廓信息对熔覆层的径向截面进行拟合,得到熔覆层径向截面的曲线函数;
以所述曲线函数为基础建立熔覆层模型,以及以所述曲线函数和侧向搭接角度为基础建立熔覆层搭接模型;
根据所述熔覆层模型和所述熔覆层搭接模型,计算熔覆层的实际熔覆长度与预设熔覆长度之间的熔覆偏移量;
基于所述熔覆偏移量规划激光的扫描路径,以按照所述扫描路径经过激光熔覆侧向搭接立体成形;
其中所述根据所述熔覆层模型和所述熔覆层搭接模型,计算熔覆层的实际熔覆长度与预设熔覆长度之间的熔覆偏移量,包括:
计算熔覆层的径向截面面积、半熔点体积,以及搭接后的熔覆层体积;
根据所述径向截面面积、所述半熔点体积以及所述搭接后的熔覆层体积,基于第一预设公式计算搭接后的熔覆层的实际熔覆长度;
根据所述实际熔覆长度,基于第二预设公式L2=L-L1,计算熔覆层的熔覆偏移量;
其中V2表示搭接后的熔覆层体积,V1表示半熔点体积,J表示熔覆层的径向截面面积,L1表示搭接后的熔覆层的实际熔覆长度,L表示预设熔覆长度,L2表示熔覆偏移量。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述轮廓信息对熔覆层的径向截面进行拟合,包括:
采用高阶曲线函数拟合熔覆层的径向截面。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述高阶曲线函数为:
其中,h为熔覆层高度,a为待定系数,为径向截面曲线阶数。
4.一种熔覆层侧向搭接的装置,其特征在于,包括:
信息采集单元,用于获取熔覆层径向截面的轮廓信息;
拟合单元,用于根据所述轮廓信息对熔覆层的径向截面进行拟合,得到熔覆层径向截面的曲线函数;
模型建立单元,用于以所述曲线函数为基础建立熔覆层模型,以及以所述曲线函数和侧向搭接角度为基础建立熔覆层搭接模型;
计算单元,用于根据所述熔覆层模型和所述熔覆层搭接模型,计算熔覆层的实际熔覆长度与预设熔覆长度之间的熔覆偏移量;
扫描路径规划单元,用于基于所述熔覆偏移量规划激光的扫描路径,以按照所述扫描路径经过激光熔覆侧向搭接立体成形;
所述计算单元包括:
第一计算子单元,用于计算熔覆层的径向截面面积、半熔点体积,以及搭接后的熔覆层体积;
第二计算子单元,用于根据所述径向截面面积、所述半熔点体积以及所述搭接后的熔覆层体积,基于第一预设公式计算搭接后的熔覆层的实际熔覆长度;
第三计算子单元,用于根据所述实际熔覆长度,基于第二预设公式L2=L-L1,计算熔覆层的熔覆偏移量;
其中V2表示搭接后的熔覆层体积,V1表示半熔点体积,J表示熔覆层的径向截面面积,L1表示搭接后的熔覆层实际熔覆长度,L表示预设熔覆长度,L2表示熔覆偏移量。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述拟合单元具体用于根据所述轮廓信息,采用高阶曲线函数拟合熔覆层的径向截面,得到熔覆层径向截面的曲线函数。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述高阶曲线函数为:
其中,h为熔覆层高度,a为待定系数,为径向截面曲线阶数。
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