[发明专利]一种LED灯具光通维持寿命的检测方法

说明书

本发明公开了一种LED灯具光通维持寿命的检测方法，包含有，步骤S1，提供LED灯具样品；步骤S2，获取所述LED灯具样品的正向电压与结温关系曲线；步骤S3，根据所述正向电压与结温关系曲线获取所述LED灯具样品在环境温度为室温且正常工作的情况下所对应的结温值T_J；步骤S4，验证所述LED灯具样品的可靠性；步骤S5，根据所述正向电压与结温关系曲线获取验证后所述LED灯具样品在室温且正常工作的情况下所对应的结温值T_J’；步骤S6，比较结温值T_J与结温值T_J’。本发明的优点在于：为检测LED灯具的光通维持寿命提供新的途径，具有耗时短、成本低和操作简便的优点。

技术领域

本发明涉及一种LED灯具光通维持寿命的检测方法。

背景技术

在《国家中长期科学和技术发展规划纲要(2006-2020年)》中的能源重点领域中的优先主题(1)工业节能中指出“要重点研究高效节能、长寿命的半导体照明产品”。近年来，我国半导体照明产业正在进入快速发展时期，已经形成了基本完整的产业链。作为半导体照明的主流技术，LED以其高光效、长寿命正在逐步的成为照明产品的代名词。

尽管LED芯片器件具备长寿命的优势，而且厂商声称可达到十万小时以上。但是形成的LED照明产品的寿命及可靠性一直是科研、产业界和消费者共同关注的重点。排除早期失效的情况外，一般认为，LED照明产品的寿命是其光通维持率降到70％时所需要消耗的时间。由于LED灯具是一个融合光学、电子、机械、材料等复杂类别的产品，主要的组成部分包括LED芯片模组、电子组件、光学材料、散热系统和结构材料等，不能仅仅用LED芯片的寿命来代替LED灯具的寿命，其整个系统的失效机理也是完全不一样的。

对于LED灯具而言，目前预测其寿命的方法主要有两种。一种是在LED灯具的正常工作状态下自然燃点，然后测试其光通维持率降到70％时所需要的时间；另一种是根据北美标准IESNA LM-84-14，测试LED灯具的6000小时(或9000小时)光通维持率数据，再用这些测试数据根据IESNA TM-28-14推算出其寿命。由于LED灯具的声称寿命至少是数万小时，所以前一种方法周期长、成本高；后一种方法缩短了测试时间，但是对于长寿命(超过50000小时)的LED灯具，仍然需要增加测试时间到接近1万小时，而且该方法没有考虑LED灯具的可靠性试验，增加了测试样品的早期失效数量，降低了检测效率。因此，如何快速准确的检测出其光通维持寿命就显得非常重要。该方法不仅适用于LED灯具产品的光通维持寿命检测，而且可以为LED灯具新产品的开发提供技术参考。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中测试时间长且准确性不高的问题，提供一种新型的LED灯具光通维持寿命的检测方法。

为了实现这一目的，本发明的技术方案如下：一种LED灯具光通维持寿命的检测方法，包含有，

步骤S1，提供LED灯具样品；

步骤S2，获取所述LED灯具样品的正向电压与结温关系曲线；

步骤S3，根据所述正向电压与结温关系曲线获取所述LED灯具样品在环境温度为室温且正常工作的情况下所对应的结温值T_J；

步骤S4，验证所述LED灯具样品的可靠性；

步骤S5，根据所述正向电压与结温关系曲线获取验证后所述LED灯具样品在室温且正常工作的情况下所对应的结温值T_J’；

步骤S6，比较结温值T_J与结温值T_J’，若结温值T_J与结温值T_J’的变化量不小于5℃，则执行步骤S7；若结温值T_J与结温值T_J’的变化量小于5℃，则执行步骤S8；