[发明专利]带抖动校正功能的透镜驱动装置有效
申请号: | 201610155502.0 | 申请日: | 2016-03-18 |
公开(公告)号: | CN105607214B | 公开(公告)日: | 2017-12-22 |
发明(设计)人: | 寺嶋厚吉 | 申请(专利权)人: | 惠州市大亚湾永昶电子工业有限公司;景美达光学技术有限公司;惠州大亚湾三美达光学技术有限公司 |
主分类号: | G02B7/09 | 分类号: | G02B7/09;G03B13/36;G03B5/00;G02B27/64 |
代理公司: | 惠州创联专利代理事务所(普通合伙)44382 | 代理人: | 韩淑英 |
地址: | 516083 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 抖动 校正 功能 透镜 驱动 装置 | ||
1.一种带抖动校正功能的透镜驱动装置,包括:
用于使透镜沿光轴方向移动的自动对焦单元,其中被摄体侧设为所述透镜的光轴方向前方;以及
用于使所述自动对焦单元向与光轴成直角的方向摆动的抖动校正单元;
其特征在于,所述自动对焦单元包括:
对焦用线圈,其安装于所述透镜外周侧且沿着所述光轴周围卷绕;以及
磁铁,其配置于对焦用线圈的外周侧,其磁极面与所述对焦用线圈沿着径向隔开空隙相互对置;
所述抖动校正单元包括沿着与光轴平行的轴周围卷绕且在光轴方向上与磁铁隔开空隙相互对置的摆动用线圈;
从包含所述光轴和磁极面法线在内的平面观察所述磁铁截面时,所述磁铁的磁化方向在所述磁铁截面的平面内与所述光轴方向相互不垂直。
2.根据权利要求1所述的带抖动校正功能的透镜驱动装置,其特征在于,从包含所述光轴和磁极面法线在内的平面观察所述磁铁截面时,所述磁铁的磁化方向相对于所述磁极面的法线向光轴方向的前方侧或后方侧倾斜。
3.一种带抖动校正功能的透镜驱动装置,包括:
用于使透镜沿光轴方向移动的自动对焦单元,其中被摄体侧设为所述透镜的光轴方向前方;以及
用于使所述自动对焦单元向与光轴成直角的方向摆动的抖动校正单元;
其特征在于,所述自动对焦单元包括:
对焦用线圈,其安装于所述透镜外周侧且沿着所述光轴周围卷绕;以及
磁铁,其配置于对焦用线圈的外周侧,其磁极面与所述对焦用线圈沿着径向隔开空隙相互对置;
所述抖动校正单元包括沿着与光轴平行的轴周围卷绕且沿着光轴方向与磁铁隔开空隙相互对置的摆动用线圈;
所述磁铁沿着所述光轴周围旋转的方向被磁化,以及绕着相对于磁极面法线成直角的轴的周围旋转的方向被磁化。
4.根据权利要求3所述的带抖动校正功能的透镜驱动装置,其特征在于,从包含所述光轴和磁极面法线在内的平面观察所述磁铁截面时,所述磁铁的磁化方向相对于所述磁极面的法线向光轴方向的前方侧倾斜。
5.根据权利要求3所述的带抖动校正功能的透镜驱动装置,其特征在于,从包含所述光轴和磁极面法线在内的平面观察所述磁铁的截面时,所述磁铁的磁化方向相对于所述磁极面的法线向光轴方向的后方侧倾斜。
6.一种带抖动校正功能的透镜驱动装置,包括:
用于使透镜沿光轴方向移动的自动对焦单元,其中被摄体侧设为所述透镜的光轴方向前方;以及
用于使所述自动对焦单元向与光轴成直角的方向摆动的抖动校正单元;
其特征在于,所述自动对焦单元包括:
对焦用线圈,其安装于所述透镜外周侧且沿着所述光轴周围卷绕;以及
磁铁,其配置于对焦用线圈的外周侧,其磁极面与所述对焦用线圈沿着径向隔开空隙相互对置;
所述抖动校正单元包括沿着与光轴平行的轴周围卷绕且在光轴方向上与磁铁隔开空隙相互对置的摆动用线圈;
所述磁铁的磁化方向相对于其磁极面倾斜,所述磁极面的法线垂直于所述光轴方向。
7.根据权利要求6所述的带抖动校正功能的透镜驱动装置,其特征在于,从包含所述光轴和磁极面法线在内的平面观察所述磁铁截面时,所述磁铁的磁化方向相对于所述磁极面的法线向光轴方向的前方侧或后方侧倾斜。
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