[发明专利]光缆检测精确定位和盲区消去系统及方法

说明书

技术领域

本发明属于光纤类检测技术领域，涉及光缆检测方法及系统，尤其涉及一种光缆检测精确定位和盲区消去系统及方法。

背景技术

近年来，光纤、光缆的使用逐渐普及开来，在光缆检测方面的技术也随之不断改进。现有普通OTDR采用单次发光连续采集的方式，采集到的光能量和光源调制的脉冲宽度有关，脉宽越大，单脉冲能量越大，可检测的光缆越长，但是会造成测试的精度下降。同时OTDR测量技术存在“盲区”，盲区又称死区，是指受菲涅耳反射的影响，在一定的距离范围内OTDR曲线无法反映光纤线路状态的部分。此现象的出现主要是由于光纤链路上菲涅耳反射强信号使得光电探测器饱和，从而需要一定的恢复时间。盲区可发生在OTDR面板前的活结头链路中其他有菲涅耳反射的地方。Belllcore定义了两种盲区：衰减盲区(ADZ)和事件盲区(EDZ)。盲区的大小与脉冲宽度、反射系数以及损耗等因素有关。同时在OTDR测试过程中会存在鬼影，鬼影即是在OTDR曲线上的尖峰有时并不是有真正的连接器或断点引起的菲涅耳反射，而是由于离入射端较近且强的反射引起的回音，这种尖峰称为鬼影。盲区和鬼影对于判断光缆的状态有很大的干扰。

但是，现有技术中，对于光缆检测中的精确定位，依然存在诸多的问题。在例如申请号为CN200710118429.0的专利申请中，利用多个光开关和AWG组合，以提供多个OTDR波长可供选择，从而根据不同波长的反射检测，实现对复杂光缆系统的定位检测。又如在申请号为CN201310224966.9的专利申请中，通过时域上的反射传输时间差，实现在时域上对不同支路进行标记，实现对支路故障的定位。但是，上述现有技术中至少存在如下的问题：无法实现在单一支路中故障点的精确定位，其定位误差过大，仍需现场故障点的长距离排查，人工成本高，定位不精确；在反射图像中，由于没有有效避免众多反射面造成的鬼影，在定位上无法确定有效反射峰，噪音影响大。

因此本发明为了消除上面两组效应对光缆测量的影响及现有技术中存在的问题，提出了一种更精准的检测方法及其相应的检测系统。

发明内容

为解决上述现有技术中存在的技术问题，本发明提出了一种光缆检测精确定位和盲区消去方法及系统。

本发明的目的是：提供一种光缆检测精确定位及盲区消去方法，它既能实现现有OTDR的功能，又能实现局部精准的检测以解决现有OTDR存在的误差、盲区以及鬼影的问题，以克服现有技术的不足。具体而言，本发明提供了以下技术方案：

一种光缆检测精确定位及盲区消去系统，其特征在于，所述系统包括：至少一个高功率稳定性光源，至少两个光开关：第一光开关、第二光开关，耦合器，光电探测器，光缆，中央控制器；

所述高功率稳定性光源与第一光开关相连；由光源发出的、经第一光开关调制的光进入耦合器中，再经过耦合器连接到光缆中；

所述光电探测器与第二光开关相连，并通过第二光开关连接到耦合器中；

所述耦合器与光缆相连；

所述中央控制器与所述第一光开关、第二光开关相连。

优选地，所述高功率稳定性光源包含宽带光源、分束器和探测器；

所述分束器分别与宽带光源、探测器相连，并与第一光开关相连；

所述探测器将探测信号反馈给宽带光源。

优选地，常规状态下，所述第二光开关处于常开状态，此时可按照OTDR模式做粗略模式测试，以检测光缆衰耗、末端、中断点的位置区间；

当进行精细测量时，所述中央控制器对所述第一光开关、第二光开关进行同步控制，使得所述第一光开关、第二光开关的脉宽相同。

优选的，该系统利用带功率检测的激光二极管作为所述光源，所述激光二极管分出一部分光作为检测光，直接从其某个引脚可以读出此检测光的数值，然后进行功率检测反馈控制。

此外，本发明还提供了一种光缆检测精确定位及盲区消去方法，该方法适用于光缆检测系统，所述系统包括至少一个高功率稳定性光源，至少两个光开关：第一光开关、第二光开关，耦合器，光电探测器，中央控制器，其特征在于：将所述高功率稳定性光源与第一光开关相连，通过调整第一光开关来实现对光源的调制；

当进行常规监测时，所述第二光开关处于常开状态，中央控制器通过对第一光开关的控制实现所述高功率稳定性光源的脉冲输出；

当进行精细测量时，中央控制器对第一光开关和第二光开关同步控制，使得两者脉宽相同；同时调整第一光开关和第二光开关的延时，实现步进采集。