[发明专利]脱落检测仪有效

专利信息
申请号: 201610152475.1 申请日: 2016-03-17
公开(公告)号: CN105675283B 公开(公告)日: 2018-10-19
发明(设计)人: 边蹬峰;刘孟秋;田元昭 申请(专利权)人: 重庆达方电子有限公司
主分类号: G01M13/00 分类号: G01M13/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 401520 重庆市*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 脱落 检测
【权利要求书】:

1.一种脱落检测仪,用于检测待检测装置的待检测元件的拉拔力,该待检测装置具有本体和设置于该本体上的至少一行待检测元件,其特征在于,该脱落检测仪包含:

底座,用于放置该待检测装置,当该待检测装置位于该底座上时,该至少一行待检测元件沿第一方向排列,且该底座具有于该第一方向上的相对的第一端和第二端,该第一方向平行于该本体所在的平面;

移动支架,设置于该底座上方,并且可相对该底座沿该第一方向移动;

测试元件,设置在该移动支架上,该测试元件用以向该待检测元件提供第二方向上的拉拔力,其中,该第二方向为该待检测元件脱离该本体的方向;

其中,当该移动支架自该第一端沿该第一方向移动至该第二端时,该测试元件自该第一端沿该第一方向移动至该第二端,且在移动过程中,该测试元件与其中一行待检测元件的多个待检测元件依序接触并抵顶所接触的待检测元件,以施加该第二方向上的拉拔力于该所接触的待检测元件上,当该所接触的待检测元件与该本体的实际结合力小于该拉拔力时,该所接触的待检测元件脱离该本体。

2.如权利要求1所述的脱落检测仪,其特征在于,该移动支架沿第三方向横跨该底座,其中,该第三方向垂直于该第一方向且平行于该本体所在的平面。

3.如权利要求2所述的脱落检测仪,其特征在于,该待检测装置包括多行待检测元件,各行待检测元件之间沿该第三方向排列,该脱落检测仪包括多个测试元件,该多个测试元件沿该第三方向排列设置于该移动支架上,各测试元件具有间隙并对应于该多行待检测元件进行配置。

4.如权利要求3所述的脱落检测仪,其特征在于,当该移动支架自该第一端沿该第一方向移动至该第二端时,每一行待检测元件分别与一个测试元件接触。

5.如权利要求1所述的脱落检测仪,其特征在于,该待检测装置包括多行待检测元件,该移动支架包括第一移动支架和第二移动支架,该第一移动支架沿第三方向横跨该底座,且该第一移动支架上设置有多个测试元件,各测试元件具有间隙并对应于该多行待检测元件进行配置;该第二移动支架沿该第三方向横跨该底座,且该第二移动支架上设置有多个测试元件,该第二移动支架上的多个测试元件沿该第三方向排列,各测试元件具有间隙并对应于该多行待检测元件进行配置,当该移动支架自该第一端沿该第一方向移动至该第二端时,该第一移动支架上的每一个测试元件分别与一行待检测元件接触,该第二移动支架上的每一个测试元件分别与一行待检测元件接触,其中,该第三方向垂直于该第一方向、且平行于该本体所在的平面。

6.如权利要求5所述的脱落检测仪,其特征在于,该第一移动支架上的测试元件的个数等于该待检测元件的行数,该第二移动支架上的测试元件的个数等于该待检测元件的行数。

7.如权利要求5所述的脱落检测仪,其特征在于,该第一移动支架和该第二移动支架沿该第一方向排列,且该第一移动支架和该第二移动支架之间具有第一预设间距,以使该第一移动支架上的多个测试片与该第二移动支架上的多个测试片互不干涉,当该第一移动支架上的测试元件与该待检测装置的第一待检测元件接触时,该第二移动支架上的测试元件与该待检测装置的第二待检测元件接触,该第二待检测元件较该第一待检测元件靠近该第一端,该第一待检测元件与该第二待检测元件沿该第一方向排列并位于同一行。

8.如权利要求5所述的脱落检测仪,其特征在于,每一个待检测元件具有相对的第一侧和第二侧,该第一移动支架上的每一个测试元件分别与待检测元件的该第一侧相抵顶,该第二移动支架上的每一个测试元件分别与待检测元件的该第二侧相抵顶,于同一时刻,该第一移动支架上的任一测试元件与该第二移动支架上的任一测试元件接触于相异的两个待检测元件。

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