[发明专利]像素缺陷的处理方法及处理系统

说明书

本发明提供了一种像素缺陷的处理方法，其包括：检测出显示面板上的缺陷可疑像素；对缺陷可疑像素进行点过滤处理。本发明还提供了一种像素缺陷的处理系统，其利用所述像素缺陷的处理方法对显示面板上的缺陷可疑像素进行处理。根据本发明的像素缺陷的处理方法及处理系统，当对显示面板上的像素进行缺陷检查时，既不会出现漏检、误检的情形，也不会出现检查溢出现象。

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体地讲，涉及一种像素缺陷的处理方法及处理系统。

背景技术

彩膜自动光学检查机(CF AOI)主要负责对彩色滤光片基板(CF基板)上的像素进行微观不良检查，即计算像素的微观缺陷的大小、数量、类型，从而判断彩色滤光片基板的质量是否符合要求。

彩膜自动光学检查机的检查原理为：利用诸如电荷耦合元件CCD收集彩色滤光片基板曝光显影后的图像信息，将检查点位像素的图像信息与其它像素的图像信息进行比对，根据对比结果判断各个像素是否有缺陷。

然而，现有的彩膜自动光学检查机在检查高分辨率彩色滤光片基板时，由于彩色滤光片基板上的黑色矩阵的线宽较窄，为了使彩色滤光片基板不泄露光线，制作像素的彩色光阻(即红色光阻、蓝色光阻、绿色光阻)的重叠现象不可避免。这样，在彩色光阻的重叠区域，彩膜自动光学检查机在检查时极易将正常像素确定为缺陷像素，从而导致彩膜自动光学检查机产生溢出(overflow)现象，即彩膜自动光学检查机将正常像素确定为缺陷像素之后，使检查出的缺陷像素的数量(其包含实际为正常像素的数量)超过彩膜自动光学检查机内设的上限缺陷像素数量的现象。

发明内容

为了解决上述现有技术存在的问题，本发明的目的在于提供一种像素缺陷的处理方法，其包括：检测出显示面板上的缺陷可疑像素；对缺陷可疑像素进行点过滤处理。

进一步地，对缺陷可疑像素进行点过滤处理的具体方法包括：确定环绕包围缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素；判断环绕包围缺陷可疑像素的上像素、下像素、左像素、右像素、左上像素、右上像素、左下像素、右下像素中是否存在至少两个为缺陷可疑像素；其中，若不存在，则将被环绕包围的缺陷可疑像素过滤掉；若存在，则将被环绕包围的缺陷可疑像素保留。

进一步地，对缺陷可疑像素进行点过滤处理之后，所述像素缺陷的处理方法还包括：对经点过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行细线过滤处理。

进一步地，对经点过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行细线过滤处理的具体方法包括：判断经点过滤处理后被保留的缺陷可疑像素中是否存在至少两个缺陷可疑像素相邻；若不存在，则将未与其他缺陷可疑像素相邻的缺陷可疑像素过滤掉；若存在，则将相邻的缺陷可疑像素保留。

进一步地，对经点过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行细线过滤处理之后，所述像素缺陷的处理方法还包括：对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小收缩处理；对经微小收缩处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小膨胀处理。

进一步地，对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小收缩处理的具体方法包括：确定与对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素相邻的上像素、下像素、左像素和右像素；判断与对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素相邻的上像素、下像素、左像素和右像素是否都为缺陷可疑像素；若是，则保留对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素；若否，则将对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素过滤掉。

进一步地，对经微小收缩处理后被保留的缺陷可疑像素进行微小膨胀处理的具体方法包括：将与对经微小收缩处理后被保留的缺陷可疑像素相邻的上像素、下像素、左像素和右像素均确定为缺陷像素，并保留。

进一步地，对经点过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行细线过滤处理之后，所述像素缺陷的处理方法还包括：对经细线过滤处理后被保留的缺陷可疑像素进行收缩处理；对经微小收缩处理后被保留的缺陷可疑像素进行膨胀处理。