[发明专利]一种补光可调且自动装夹的视觉成像测量系统

说明书

本发明公开了一种补光可调且自动装夹的视觉成像测量系统，包括：控制系统；工作台；第一导轨组件，该第一导轨组件包括固接于工作台上的左支座与右支座、第一导轨；测量组件，其可沿第一导轨往复滑移；设于所述工作台之上的自动上下料组件；以及至少一个载具组件，其中，所述检测组件设有至少一个其光源的高度及照射角度可调的补光装置，所述自动上下料组件设有吸料组件，所述测量组件、自动上下料组件、以及载具组件与所述控制系统电连接。本发明具有确保在通过减少人工辅助操作的步骤来提高自动化程度的前提下，提高对待测物特别是对尺寸结构细小、复杂的待测物的测量精度，并且提高测量成功率，减少测量时间，提高测量效率的有益效果。

技术领域

本发明涉及一种非接触式视觉成像尺寸测量系统，更具体地，涉及一种补光可调且自动装夹的视觉成像测量系统。

背景技术

非接触式尺寸测量装置以光电、电磁、超声波等技术为基础，在仪器的测量元件不与被测物体表面接触的情况下，即可获得被测物体的各种外表或内在的尺寸数据特征。非接触式尺寸测量系统与传统的接触式测距系统相比精度更高、操作更方便、安全系数更高、洁净度高、测量过程中对被测物的污染程度小，从而被应用于工业生产及科学研究的多个领域。

典型的非接触式尺寸测量方法如激光三角法、电涡流法、超声测量法、视觉成像测量法、超声波测量法等等，其中视觉成像测量法是指通过机器视觉产品(即图像摄取装置，分CMOS相机和CCD相机两种，CMOS相机像素较高，大约为2500万像素，CCD相机像素较低，大约为150万像素)将被摄取目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号，图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，进而根据判别的结果来控制现场的设备动作，在测量缺陷和防止缺陷产品被配送到消费者的功能方面具有不可估量的价值。

现有技术中的视觉成像测量系统对于待测物表面及内部的复杂结构形状的测量具有一定的局限性：首先，对于具有复杂结构的小尺寸待测物来说，测量过程中环境光不能充分照射到待测物表面特别是待测物的内部表面上，造成测量过程中相机曝光不足或者过度包括，使得获得的图像成像质量差，从而造成需要多次反复测量才能获得比较满意的测量结果，这无疑大大降低了测量效率、提高了测量成本；其次，由于复杂结构的小尺寸待测物比较难以抓取，测物的上下料过程自动化程度低、上下料效率低，此外，上下料过程中容易对待测物造成损坏，增加生产成本；再次，由于复杂结构的小尺寸待测物的结构比较复杂，放置在载具上比较难以夹紧，或者夹紧过程中花费时间过长，又或者虽然夹紧了待测物，但是例如夹具、载具又会对环境光的照射产生遮挡，从而对待测物的成像质量产生影响。

发明内容

针对上述技术中存在的不足之处，本发明的目的是提供一种补光可调且自动装夹的视觉成像测量系统，对现有的非接触式测量系统进行优化改进，对现有的非接触式测量系统进行优化改进，确保在通过减少人工辅助操作的步骤来提高自动化程度的前提下，提高对待测物特别是对尺寸结构细小、复杂的待测物的测量精度，并且提高测量成功率，减少测量时间，提高测量效率。为了实现根据本发明的这些目的和其他优点，提供了一种补光可调且自动装夹的视觉成像测量系统，其特征在于，包括：

控制系统；

工作台；

设于所述工作台上的第一导轨组件，该第一导轨组件包括固接于所述工作台上的左支座与右支座、以及跨接于所述左支座与右支座之间的第一导轨；

设于所述第一导轨上的测量组件，该测量组件可沿所述第一导轨来回往复地滑移；

设于所述工作台之上、第一导轨之下、及左支座与右支座之间的自动上下料组件，所述自动上下料组件包括：与所述第一导轨垂直设置的第二导轨；设于所述第二导轨之上的上下料支座；设于所述上下料支座上的吸料组件；及设于所述第二导轨外侧的至少一个置物台，所述上下料支座可沿所述第二导轨前后往复滑动，所述吸料组件可沿所述上下料支座上下往复滑动；以及