[发明专利]一种半导体制冷的X射线硅pin探测器有效

专利信息
申请号: 201610146035.5 申请日: 2016-03-15
公开(公告)号: CN105700003B 公开(公告)日: 2019-12-13
发明(设计)人: 葛良全;曾国强;程峰;罗耀耀;张庆贤;马永红;谷懿;王广西 申请(专利权)人: 成都理工大学
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24;G01T1/36
代理公司: 11465 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 代理人: 崔自京
地址: 610059 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 制冷 射线 pin 探测器
【说明书】:

一种半导体制冷的X射线硅pin探测器,包括:陶瓷管座,其边缘均匀设有若干引脚;设于陶瓷管座上的制冷器,其上封装有分别与引脚连接的Si‑Pin探测器、JFET场效应管、反馈电容、测试电容、热敏电阻,所述Si‑Pin探测器的探头内部充装有氦气,所述JFET场效应管具有源极、漏极、栅极,其中源极与漏极分别连接于引脚,栅极连接于Si‑Pin探测器,所述反馈电容、测试电容分别连接于Si‑Pin探测器;罩设于陶瓷管座上方的屏蔽罩;正向偏置电荷灵敏前置放大器,其正极连接于Si‑Pin探测器,负极接地,输出端与反馈电容连接后与电源输出端连接。该硅pin探测器具有结构简单、探测精准、工作效率高的优点。

【技术领域】

发明涉及一种硅pin探测器,具体涉及一种半导体制冷的X射线硅pin探测器。

【背景技术】

X射线由德国物理学家W.K.伦琴于1895年发现,现已广泛应用于医疗、地质、采矿、选冶、石化、建材、环保、商检、考古等多个领域。目前如何测量得到高分辨率的X射线能谱是大家共同关注的问题。

Si-PIN探测器是一种高性能的PIN结构的以半导体材料Si为探测基体的X射线探测器,它采用注植工艺在探测器基体内部形成高阻(大于10GΩ)的I层。PIN(Positive-intrinsic-Negative)是一种结构,包括一层P型半导体(多数载流子是空穴,受主杂质为主导)、一层N型半导体(多数载流子为电子,施主杂质为主导,)以及二者中间的本征半导体I层。Si-PIN探测器具有结电容小、响应时间快(约为几十ns)、漏电流小、能量分辨率高、增益受磁场影响较小等特点,常用于测量高分辨率的X射线能谱。

Si-PIN探测器的灵敏面积决定了其电容大小,面积越大导致漏电流和噪声越大,使得能量分辨率变差。为了获得较好的能量分辨,Si-PIN的有效面积不能太大。较大面积的Si-PIN探测器要求工作在低温和较长的成形时间条件下。在温差制冷-40℃条件下,250mm2Si-PIN测得55Fe能谱在5.9keV的能量分辨率好于200eV。

然而Si-PIN探测器需要避光测量,同时还需考虑到X射线源发出的X射线穿过一定的距离后到达探测器的衰减情况,另外Si-PIN探测器的输出电荷量十分微弱,为了提高信号的信噪比,获得较为理想的输出脉冲信号,就需要采用制冷器给Si-PIN探测器制冷,然而现有技术中并没有关于解决上述问题的相关探测器。

【发明内容】

针对上述问题,本发明提供一种采用半导体制冷,从而提高信号信噪比,获得理想输出脉冲信号的X射线硅pin探测器。

本发明是通过以下技术方案实现的,提供一种半导体制冷的X射线硅pin探测器,包括:

陶瓷管座,其边缘部位均匀设有若干引脚;

设于陶瓷管座上的制冷器,其上封装有分别与引脚连接的Si-Pin探测器、JFET场效应管、反馈电容、测试电容、热敏电阻,所述Si-Pin探测器的探头内部充装有氦气,所述JFET场效应管具有源极、漏极、栅极,其中源极与漏极分别连接于引脚,栅极连接于Si-Pin探测器,所述反馈电容、测试电容分别连接于Si-Pin探测器;

罩设于陶瓷管座上方、用于对Si-Pin探测器进行避光的屏蔽罩;

正向偏置电荷灵敏前置放大器,其正极连接于Si-Pin探测器,负极接地,输出端与反馈电容连接后与电源输出端连接。

特别的,所述屏蔽罩为三层复合材料制作而成,由内至外分别为内镀铝层、聚对苯二甲酸乙二醇酯(polyethylene terephthalate,以下简称PET)层、外镀铝层,所述内镀铝层与外镀铝层的厚度均为0.15um。

特别的,所述JFET场效应管、反馈电容应设于靠近Si-Pin探测器的位置。

特别的,所述JFET场效应管为裸晶圆。

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