[发明专利]ESD测试装置及ESD测试方法

说明书

本发明提供一种ESD测试装置及ESD测试方法，该装置包括测试模块(1)、与所述测试模块(1)电性连接的选通模块(2)、以及与所述测试模块(1)和选通模块(2)均电性连接的显示模块(3)；所述测试模块(1)包括多条并联的输出通道(OUT(1)～OUT(N))、以及多条并联的测试通道(TP(1)～TP(M))，所述多条并联的输出通道(OUT(1)～OUT(N))与所述多条并联的测试通道(TP(1)～TP(M))串联，其能够通过选通模块(2)自动选通对应的输出通道，对测试点完成规定次数的ESD测试，简化测试过程，提升测试效率，并通过显示模块(3)实时记录并显示选通的输出通道位置，在ESD测试中断时，通过显示模块(3)快速准确的找到中断位置继续测试，实现中继功能。

技术领域

本发明涉及静电放电测试技术领域，尤其涉及一种ESD测试装置及ESD测试方法。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用，如：液晶电视、移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等，在平板显示领域中占主导地位。

薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)是当前平板显示的主要品种之一，所述薄膜晶体管液晶显示器通过一薄膜晶体管开关来控制数据信号的输入，进而控制画面显示。

具体地，请参阅图1，TFT-LCD主要驱动原理为，系统主板通过线材与印刷电路板200(Printed Circuit Board，PCB)上的连接器(connector)100相连接，R/G/B压缩信号、控制信号及驱动信号等数据经由印刷电路板200上的时序控制器(Timing Controller，TCON)处理后，通过源极端子(Source-Chip on Film，S-COF)300和栅极端子(Gate-Chip onFilm，G-COF)400与显示区500连接，从而使得LCD获得所需的信号，完成画面显示。

静电放电(Electro-Static Discharge，ESD)是指具有不同静电电位的物体互相靠近或直接接触引起的电荷转移，TFT-LCD中的连接器100在插拔时不可避免的会产生静电，引起静电放电，产生的上千伏的瞬时电压，造成静电击伤，使得TFT-LCD无法正常工作。

为了避免静电击伤，在TFT-LCD的生产过程中需要进行ESD测试，随着用户对于产品可靠性要求的不断提高，以及系统客户对产品品质要求的不断严苛，ESD测试的标准也变得越来越严格。过去只需要针对几个点进行ESD测试，而现在则需要针对连接器的每一针(Pin)均进行ESD测试。而测试方法却还停留在利用转接板上的测试点，或者直接利用输入端柔性扁平线缆(Flexible Flat Cable，FFC)上面的焊盘(Pad)进行ESD测试。随着测试点数的增加，漏测和多测的风险也随之增加，且在测试过程中被外界干扰造成中断时，极易造成无法找到中断点，使得测试效率低下。

发明内容

本发明的目的在于提供一种ESD测试装置及ESD测试方法，能够简化测试过程，提升测试效率，实时记录测试位置，实现中继功能。

为实现上述目的，本发明提供了一种ESD测试装置，包括：测试模块、与所述测试模块电性连接的选通模块、以及与所述测试模块和选通模块均电性连接的显示模块；

设M和N均为正整数，所述测试模块包括多条并联的输出通道、以及多条并联的测试通道，所述多条并联的输出通道与所述多条并联的测试通道串联；

所述显示模块与选通模块均与第M条测试通道电性连接。

所述每一测试通道均包括：一测试焊盘、以及一二极管，所述二极管的正极与所述测试焊盘电性连接，负极与所述输出通道电性连接。