[发明专利]一种LED模组自动老化的检测方法及其检测系统

权利要求书

1.一种LED模组自动老化的检测方法，其特征在于，其检测步骤是：

步骤一，读取LED故障查询按钮,根据按钮的状态值进行功能操作；

步骤二，相应故障LED模组进行短路提醒显示,同时数码管也进行提醒；

步骤三，相应故障LED模组进行开路、虚焊提醒显示,同时数码管也进行提醒；

步骤四，读取LED类型选择按钮,根据按钮的状态值选择相应的模式；

步骤五，对一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED的两个管脚的电压差值进行计算；

步骤六，LED短路和开路、虚焊检测；

步骤七，故障数据记录；

步骤八，读取记录数据清除按钮,根据按钮的状态值进行清除数据功能操作。

2.根据权利要求1所述的LED模组自动老化的检测方法，其特征在于：上述步骤五的具体过程如下：

(1)熄灭所有的LED；

(2)点亮此模组中相同颜色的第一个芯片中第一个LED；

(3)通过AD采样读取这个LED的电压值V1,并保存值V1；

(4)对于模组P16，重复上述步骤(1)～(3)，直到同一种颜色的一个芯片所有LED的两个管脚的电压差值Vn读取完毕,并保存值Vn，其中：n为1-16的正整数；

(5)计算Vn的电压均值△Vavr,并保存△Vavr；

(6)计算电压差值:△Vn＝Vn-Vavr，其中：n为1-16的正整数，记录对应的模组号、行号、列号和电压差值，

(7)保存值△Vn；

(8)计算△Vn的均值△Vavr,并保存值△Vavr，记录所在模组号，第几个芯片,均值。

3.根据权利要求2所述的LED模组自动老化的检测方法，其特征在于：关于模组P31/P33红色LED的短路和开路、虚焊检测过程，包括如下步骤：

(1)周期性定时器向系统发送定时到事件；

(2)执行一个模组同一种颜色一个芯片中所有LED的两个管脚差值计算用例，获取值△Vn和△Vavr，其中：n为1-16的正整数；

(3)对于模组P31、P33红色LED，如果△Vn＞0且(|△Vavr|+15)≤|△Vn|≤70，其中：n为1-16的正整数，则将此LED位置信息和芯片相邻管脚短路故障写入EEPROM；

(4)对于模组P31、P33红色LED，如果△Vn＞0且(|△Vavr|+70)≤|△Vn|≤130，其中：n为1-16的正整数，则将此LED位置信息和LED管脚自身短路故障写入EEPROM；

(5)对于模组P31、P33红色LED，如果△Vn＜0且(|△Vavr|+15)≤|△Vn|≤70，其中：n为1-16的正整数，则将此LED位置信息和2路并联中有1路开路故障写入EEPROM；

(6)对于模组P31、P33红色LED，如果△Vn＜0，且(|△Vavr|+80)≤|△Vn|≤200，其中：n为1-16的正整数，则将此LED位置信息和2路并联中全开路故障写入EEPROM；

(7)其它情况下,本系统不作处理。