[发明专利]一种光学接触检测装置有效
| 申请号: | 201610125899.9 | 申请日: | 2016-03-07 |
| 公开(公告)号: | CN105786201B | 公开(公告)日: | 2018-10-19 |
| 发明(设计)人: | 江培根 | 申请(专利权)人: | 江培根 |
| 主分类号: | G06F3/02 | 分类号: | G06F3/02;G06F3/0354;G06F3/038 |
| 代理公司: | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人: | 李德溅;徐冬涛 |
| 地址: | 美国华盛顿州萨玛*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 光学 接触 检测 装置 | ||
1.一种光学接触检测装置,包括对称放置在一物体表面两侧的发光管芯(410)和测光管芯(420),其特征在于:所述的发光管芯(410)被一透光体(502)封闭,该发光管芯(410)的透光体(502)有一个反光斜面(505)把发光管芯(410)所发出的光反射到测光管芯(420);该测光管芯(420)被另一透光体(502)所封闭,该测光管芯(420)的透光体(502)也有一个反光斜面(505)把发光管芯(410)发出的光反射到测光管芯(420)上,从发光管芯(410)发出的光线到测光管芯(420)接收的光线中有一段与该物体表面相平行的中间光线(630);一个透明体(502)内封闭有多个等距排列的发光管芯(410),且多个等距排列的测光管芯(420)亦被另一个透明体(502)封闭,且对称设置在物体表面两侧的两个透明体(502)内的发光管芯(410)和测光管芯(420)一一对应。
2.根据权利要求1所述的光学接触检测装置,其特征在于:所述的发光管芯(410)直接发出的出射光线(530)与该物体表面相垂直,且用于封闭的透光体(502)的反光斜面(505)则与该物体表面成45°角。
3.根据权利要求1或2所述的光学接触检测装置,其特征在于:所述测光管芯(420)的透光体(502)的反光斜面(505)亦与该物体表面成45°角。
4.根据权利要求1所述的光学接触检测装置,其特征在于:所述透明体(502)中的相邻发光管芯(410)的阳极(415)错位设置以扩大外部接线端子的间距;透明体(502)中的相邻测光管芯(420)的阳极(415)错位设置以扩大外部接线端子的间距。
5.根据权利要求1所述的光学接触检测装置,其特征在于:多个等距排列的发光管芯(410)被固定在同一块基板(402)上,发光管芯(410)底部的阴极通过阴极引线(512)与外部端子相连接,发光管芯(410)上部的阳极(415)通过导线(525)与阳极引脚(515)相连接,然后该基板(402)被一个带有反光斜面(505)的透光体(502)所封闭,则基板(402)、多个等距排列的发光管芯(410)以及透光体(502)构成了发光组件。
6.根据权利要求1或5所述的光学接触检测装置,其特征在于:多个等距排列的测光管芯(420)被固定在同一块基板(402)上,测光管芯(420)底部的阴极通过阴极引线(512)与外部端子相连接,测光管芯(420)上部的阳极(415)通过导线(525)与阳极引脚(515)相连接,然后该基板(402)被一个带有反光斜面(505)的透光体(502)所封闭,则基板(402)、多个等距排列的测光管芯(420)以及透光体(502)构成了测光组件。
7.根据权利要求1所述的光学接触检测装置,其特征在于:该物体表面是计算机键盘的表面,在物体表面的纵向上对称设置有发光管芯(410)和测光管芯(420)且在物体表面的横向上亦对称设置有发光管芯(410)和测光管芯(420)。
8.根据权利要求1所述的光学接触检测装置,其特征在于:所述的发光管芯(410)和测光管芯(420)采用LED。
9.根据权利要求1所述的光学接触检测装置,其特征在于:所述的透光体(502)上设有保护附件(642)。
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