[发明专利]引伸计校准装置有效

专利信息
申请号: 201610122104.9 申请日: 2016-03-03
公开(公告)号: CN105651240B 公开(公告)日: 2019-09-24
发明(设计)人: 曹久大;周兆丰;张平;朱超;叶锦成;项樑 申请(专利权)人: 重庆建设工业(集团)有限责任公司
主分类号: G01B21/32 分类号: G01B21/32
代理公司: 重庆蕴博君晟知识产权代理事务所(普通合伙) 50223 代理人: 郑勇
地址: 400054 重庆*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 引伸计 校准 装置
【说明书】:

发明公开了一种引伸计校准装置,它可对各种电子式、机械式引伸计进行校准,可满足0.2级以下的引伸计示值量值溯源要求。包括底座,底座上固定立柱,立柱上依次安装光栅传感器支承座、固定心轴支承座、可动心轴支承座和丝杆副支承座,光栅传感器支承座上安装光栅传感器,固定心轴支承座上安装固定心轴,可动心轴支承座上安装可动心轴,丝杆副支承座上安装交流伺服电机,交流伺服电机的转轴与可动心轴通过丝杆副连接,可动心轴的上端固定同轴的测杆,该测杆间隙配合于固定心轴的轴向孔内形成导向,测杆的上端通过联轴器与光栅传感器的下端测头固定连接,校准引伸计时,引伸计的一端连接固定心轴,另一端连接可动心轴。

技术领域

本发明设计涉及计量领域,特别是涉及一种引伸计校准装置。

背景技术

引伸计是材料试验机对材料试样施加轴向力时,测量试样变形的装置,包括测量、指示或记录系统。引伸计测量系统位移量值需要采用引伸计标定器定期校准,才能保证其测量准确度。对引伸计的校准就是将引伸计的读数与引伸计标定器给定的已知长度的变化量进行比较,确定其示值误差,保证材料试验结果的正确性。根据国家计量技术规范JJF1096-2002引伸计标定器校准规范规定,引伸计标定器按测微装置形式分为A类和B类。

A类标定器一般由螺旋副结构的测微头实现位移,用安装在标定器支架上的测微仪表(比较仪、测微计等)配合量块进行测量,准确度高,可满足 0.2级和0.5级微应变引伸计示值的量值溯源要求;B类标定器一般用测微头同时实现位移,准确度低,可满足1级和2级引伸计示值的量值溯源要求。

参见图1,A类引伸计标定器是L型结构,主体是一个支撑平台,在平台右侧中间部位安装有立轴,作为支撑校准装置各部件的支架。支架上、中、下三个部位分别垂直固定一个水平夹持机构,且在左端部同一轴线上,上、中、下部夹持机构均有一个通孔。

上部夹持机构通孔为圆形夹持孔,孔径大小与校准装置配备的测微仪表外径相同,测微仪表穿过夹持孔并通过锁紧螺栓固定在上面。测微仪表的上部位位移显示表,有刻度和指针;下部为可上下移动的测头,与指针具有联动测量显示位移功能。

中间夹持机构的通孔位与固定心轴外径紧配合,将固定心轴固定在中间夹持夹持机构上。固定心轴中心是导向管,导向管中间为可动心轴,可动心轴上端装有一测微工作台,工作台上表面与测微仪表的测微头接触,一般采用预紧位移,受到轻微表面接触力作用。

导向管从固定心轴连接到可动心轴,起可动心轴移动时的导向作用。可动心轴与固定心轴间存在一定的距离,随可动心轴移动而调整。

下部夹持机构与上部夹持机构结构相同,通孔与测微头连接轴外径紧配合固定在夹持机构上。测微头是螺旋幅结构,与可动心轴连接。可动心轴安装在螺旋丝杆上,测微头是由可旋转微分筒和固定丝杆组成,可手动旋转微分筒产生顺时针或逆时针旋转,若微分筒顺时针转动可带动丝杆轴向上移动,反之,微分筒逆时针转动可带动丝杆轴向上移动。微分筒表面有移动位移刻度显示,能控制可动轴的上下移动位移。

校准时,被检的引伸计两测量臂钩挂在可动心轴和固定心轴两端,测微头旋转致使可动心轴上下移动,带动被检引伸计两测量臂移动和测量移动位移,作为被检引伸计示值;同时,可动心轴的上下移动使其上端工作平台跟随移动,测微仪表的测头受工作台移动变化,使显示仪表同步测量显示出可动轴的上下移动位移,作为标准位移值,由被检引伸计示值减去标准位移值,即可得到引伸计该位移测量点的示值误差,变化测量点,即可检定引伸计各位移值的示值误差,从而实现检定的目的。

发明内容

本发明的目的在于针对现有技术的不足,提供一种引伸计校准装置,它可对各种电子式、机械式引伸计进行校准,可满足0.2级以下的引伸计示值量值溯源要求。

本发明的目的是这样实现的:

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