[发明专利]用于光学装置的杂物去除盖子有效

专利信息
申请号: 201610117896.0 申请日: 2016-03-02
公开(公告)号: CN105938225B 公开(公告)日: 2018-02-16
发明(设计)人: D.D.厄尔德曼;凌涛 申请(专利权)人: 泰科电子公司
主分类号: G02B6/38 分类号: G02B6/38
代理公司: 北京市柳沈律师事务所11105 代理人: 葛青
地址: 美国宾夕*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 光学 装置 杂物 去除 盖子
【说明书】:

技术领域

本文主题一般地涉及具有被暴露的透镜的光学装置。

背景技术

光通信在一些应用中可具有超过有线电通信的优点。越来越多地,大通信系统以及小装置(诸如消费装置)使用光通路来通过系统或装置传输数据信号。光通路可以包括光纤、透镜和/或允许光从中穿过传播的其它材料。当两个光学装置配合时,光学部件(例如,透镜或光纤)彼此对准,以便从一个部件发出的光由另一部件接收到。

至少一些已知光学装置包括箍圈(ferrule)本体,用以将多个光纤光学连接到透镜阵列中的相应透镜。例如,箍圈本体可以包括多个通道,每个通道接收且定向相应光纤,以便光纤与透镜阵列中的相应透镜对准。箍圈本体然后可布置在另一光学装置附近。例如,箍圈本体的各透镜可以与另一个光学装置的另一透镜和/或光纤对准。光学装置可以以各种方式互相配合。对一些类型的光学装置,透镜在插入方向上面向。例如,透镜可以沿着可插拔光学装置的侧面设置。在其它类型的光学装置中,但是,透镜可以在垂直于插入方向或者垂直于光纤的方向上面向。

光学装置经常碰到的一个挑战在于,灰尘或者其它杂物可能顺着透镜存在,且不利地影响光传输。杂物典型地用单独的清洁机构去除。例如,在配合光学装置之前,技术人员可使用工具清洁各透镜阵列。该清洁处理会是耗时和/或劳动强度大的,且因此是昂贵的。

因此,存在对于清洁光连接器的一个或多个光学表面的替代机构或者方法的需要。

发明内容

在一实施例中,杂物去除盖子(debris-removing cap)设置为包括盖子本体,该盖子本体具有限定了接收空腔的内表面。盖子本体构造成附接到光学装置,使得光学装置的配合面布置在接收空腔中。内表面构造成面向光学装置的配合面。杂物去除盖子还包括透镜擦拭器,该透镜擦拭器联接到接收空腔中的内表面,并且背离内表面、朝向光学装置的配合面延伸。透镜擦拭器在由杂物去除盖子的用户激活时相对于配合面移动。透镜擦拭器在由用户激活时接合配合面的透镜,从而将杂物从透镜去除。

在一实施例中,杂物去除盖子设置为包括盖子本体,该盖子本体具有限定了接收空腔的内表面。盖子本体构造成附接到光学装置,使得光学装置的配合面布置在接收空腔中。杂物去除盖子还包括联接到盖子本体、且设置在接收空腔中的透镜擦拭器。透镜擦拭器具有暴露于盖子本体外部、且构造成由杂物去除盖子的用户接合的激活表面。透镜擦拭器接合配合面的透镜,并且在由用户激活时跨配合面清扫,从而将杂物从透镜去除。

附图说明

图1是包括一对光缆组件的光通信系统的透视图。

图2是可以用于光缆组件的透镜阵列的放大透视图。

图3是在联接到光学装置端部之前的根据一实施例形成的杂物去除盖子的侧面横截面图。

图4是在由用户激活用于清洁光学装置的配合面之前的图3的杂物去除盖子的侧面横截面图。

图5是在由用户激活期间的图3的杂物去除盖子的侧面横截面图。

图6是根据一实施例形成的杂物去除盖子的侧面横截面图。

图7是根据一实施例形成的杂物去除盖子的侧面横截面图。

图8是根据一实施例形成的杂物去除盖子的侧面横截面图。

图9是在由用户激活期间的图8的杂物去除盖子的侧面横截面图。

具体实施方式

本文提出的实施例包括如下杂物去除盖子,该杂物去除盖子构造成与具有包括透镜的配合面的光学装置(例如,可插拔光连接器)相互作用。杂物去除盖子包括可以构造成可拆除地附接到光学装置的盖子本体。例如,如果光学装置是可插拔光连接器,则盖子本体可包围光连接器的可插拔端部且与之形成过盈配合(interference fit)。光学装置可以被接收在由盖子本体限定的接收空腔中。杂物去除盖子可以包括在盖子本体的接收空腔中的透镜擦拭器。透镜擦拭器构造成由用户激活(activated)。更具体地,用户产生的力可用以移动透镜擦拭器或者被转换为移动透镜擦拭器的力。透镜擦拭器可扫过光学装置的配合面和/或透镜,由此清洁透镜。透镜擦拭器可以构造成去除灰尘、油和/或其它污染物。

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