[发明专利]电子装置的查验方法

说明书

一种电子装置的查验方法，其包括：接收一快速开机信号以及响应快速开机信号进入一快速开机阶段。其中，快速开机阶段包括：执行一开机启动程序的一部分；于完成执行部分的开机启动程序后，读取一电子装置的机台信息；驱动电子装置的一输出模块；利用输出模块根据机台信息输出一对外信号；以及于对外信号输出后，停留于快速开机阶段。根据本发明的电子装置的查验方法，提供电子装置能在不进入作业系统的情况下进行机台信息的查验，进而提升电子装置的品质且方便销售人员于销售前确认机台信息。

技术领域

本发明是关于一种电子装置的开箱检测方式，特别是一种电子装置的查验方法。

背景技术

随着科技的日新月异，各式各样的电子装置不断被开发出来，并且在人类生活中已成为非常重要的一部分。由于能提供诸多便利性，诸如智能手机(smart phone)、导航机(PND)、数码相机、笔记本本电脑(notebook)、平板电脑(Tablet or Pad)、网络摄影机(IPCamera)或行车记录器等电子装置已成为人们最频繁使用的产品之一。

各种电子装置于生产时，工厂会设置各种测试站用于查验电子装置中的软硬件的功能是否运作正常以及电子装置的序号、版本等信息是否正确。

理论上，所有软硬件的功能及信息检查均可于作业系统(例如：Windows、Mac OSX、Unix、Android、iOS、Mango、Apollo等)阶段完成。但实务上，当电子装置完成检测后，需重置并还原成初始状态；此时，所有生产时所需的暂时性数据均被清除。

除生产过程中的各种测试外，在最终出货前，还有道开箱(OOB)检测程序。此开箱检测程序是将已封箱的电子装置取出，并将其开机进入作业系统阶段，以再次检验机台信息是否正确。但电子装置在首次开机时，会执行检测程序并写入相关设定；然而，有些电子装置因使用需求会设计成一次性写入，因此无法对此类设定进行更新。故具有此种设计的电子装置便无法执行开箱检测程序，而无法确保电子装置的品质。

发明内容

在一实施例中，一种电子装置的查验方法，其包括：接收一快速开机信号以及响应快速开机信号进入一快速开机阶段。其中，快速开机阶段包括：执行一开机启动程序的一部分、于完成执行部分的开机启动程序后，读取一电子装置的一机台信息、驱动电子装置的一输出模块、利用输出模块根据机台信息输出一对外信号、以及于对外信号输出后，停留于快速开机阶段。

综上，根据本发明的电子装置的查验方法应用在电子装置上，提供电子装置能在不进入作业系统的情况下进行机台信息的查验，进而提升电子装置的品质且方便销售人员于销售前确认机台信息。

附图说明

图1是根据本发明的查验系统的一实施例的示意图。

图2是图1的查验系统的功能方块图。

图3是根据本发明的电子装置的查验方法的一实施例的流程图。

图4是根据本发明的查验系统的另一实施例的示意图。

图5是图4的查验系统的一态样的功能方块图。

图6是图4的查验系统的另一态样的功能方块图。

图7是根据本发明的电子装置的查验方法的另一实施例的流程图。

图8是根据本发明的电子装置的查验方法的又一实施例的流程图。

图9是根据本发明的电子装置的查验方法的一些实施例的局部流程图。

图10是根据本发明的电子装置的查验方法的另一些实施例的局部流程图。

图11是步骤S470的一实施例的细部流程图。

图12是步骤S530的一实施例的细部流程图。