[发明专利]深层自滤密封水样采集装置及其方法在审
申请号: | 201610116741.5 | 申请日: | 2016-03-01 |
公开(公告)号: | CN105571899A | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
发明(设计)人: | 胡明鉴;朱长歧;王新志;孟庆山;叶剑红;阎轲;沈建华;肖娟 | 申请(专利权)人: | 中国科学院武汉岩土力学研究所 |
主分类号: | G01N1/10 | 分类号: | G01N1/10;G01N1/34 |
代理公司: | 武汉宇晨专利事务所 42001 | 代理人: | 黄瑞棠 |
地址: | 430071*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 深层 密封 水样 采集 装置 及其 方法 | ||
1.一种深层自滤密封水样采集装置,其特征在于:
包括从下到上依次连接的底部配重进水模块(10)、自滤密封模块(20)、下中空连接模块(31)、储水仓(40)、上中空连接模块(32)、过水封盖模块(50、)套绳锥头模块(60)、不伸缩刻度拉绳(70)。
2.按权利要求1所述的一种深层自滤密封水样采集装置,其特征在于:
所述的底部配重进水模块(10)包括下、上连接的圆弧底配重块(11)和透壁进水套筒(12);
圆弧底配重块(11)是一种内包铅块或铸铁的不锈钢圆块,底面为圆弧底,顶面设置有凸出的外螺纹;
透壁进水套筒(12)是一种两端有凹槽螺纹接口的且筒壁分布有通透圆孔的圆筒。
3.按权利要求1所述的一种深层自滤密封水样采集装置,其特征在于:
所述的自滤密封模块(20)由自滤圆形中空垫片(21)、自滤圆形滤网(22)、自滤封盖底座(23)、自滤密封圈(24)、自滤封盖定位支架(25)、自滤密封盖(26)和自滤封盖限位架(27)组成;
其位置和连接关系是:
自滤中空垫片(21)以环形螺纹固定在透壁进水套筒(12)上,自下而上,自滤中空垫片(21)、自滤圆形滤网(22)、自滤封盖底座(23)和自滤密封圈(24)依次连接;在自滤封盖底座(23)上的左、右端分别固定有自滤封盖定位支架(25)和自滤封盖限位架(27);自滤密封盖(26)的左端点和自滤封盖定位支架(25)连接;
自滤圆形中空垫片(21)的内壁设置有环形螺纹;
自滤封盖底座(23)是一种中空圆块,中空圆外有用于安装自滤密封圈(24)的圆形凹槽。
4.按权利要求1所述的一种深层自滤密封水样采集装置,其特征在于:
所述的过水封盖模块(50)包括过水封盖底座(51)、过水密封圈(52)、过水封盖定位支架(53)、过水密封盖(54)、过水封盖限位架(55)和过水透壁过水套筒(56);
其位置和连接关系是:
在过水透壁过水套筒(56)内,从下至上,过水封盖底座(51)、过水密封圈(52)和过上中空连接模块(32)依次连接;在过水封盖底座(51)上的左、右端分别固定有过水封盖定位支架(53)和过水封盖限位架(55);过水密封盖(54)的左端点和过水封盖定位支架(53)连接。
5.按权利要求1所述的一种深层自滤密封水样采集装置,其特征在于:
所述的套绳锥头模块(60)包括上下连接的锥形尖头(61)和外螺纹筒(62),在锥形尖头(61)的顶部设置有套绳孔(63)。
6.按权利要求1所述的一种深层自滤密封水样采集装置,其特征在于:
所述的不伸缩刻度拉绳(70)为一种带有长度刻度的细钢绳或其他不可伸长的细绳索。
7.按按权利要求1-6所述深层自滤密封水样采集装置的采集方法,其特征在于包括下列步骤:
①在底部配重进水模块(10)的重力作用和不伸缩刻度拉绳70的共同作用下,将本装置缓慢下降;
②在本装置下降过程中,自滤密封模块(20)的自滤密封盖(26)和过水封盖模块(50)的过水密封盖(54)在水的浮力作用下自动开启,使本装置呈空心圆管状下降,既减小了水的阻力和浮力,也使水顺利透过而不滞留在储水仓(40)内;
③在不伸缩刻度拉绳(70)的牵引下,本装置下降到指定的取水深度,静置约5-10秒使水完全充盈储水仓(40);
④回拉不伸缩刻度拉绳(70),使本装置上升;
⑤在本装置上升过程中,自滤密封模块(20)的自滤密封盖(26)和过水封盖模块(50)的过水密封盖(54)在水的阻力作用下自动闭合,将水样密封于储水仓(40)内;
⑥继续回拉不伸缩刻度拉绳(70)直至装满水样的本装置出水;
⑦从上中空连接模块(32)与过水透壁过水套筒(56)螺纹连接处拧开;
⑧将储水仓(40)内的水样从过水封盖模块(50)上端倒出,装入预先准备的试样瓶供后期测试;
⑨将过水透壁过水套筒(56)拧回中空连接模块(30)准备下一水样选取。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院武汉岩土力学研究所,未经中国科学院武汉岩土力学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610116741.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。