[发明专利]一种电气设备缺陷检测用紫外双光谱检测仪

权利要求书

1.电气设备缺陷检测用紫外双光谱检测仪其权利特征如下：

1.紫外/可见光双光谱探测光学子系统设计技术；

光子成像计数技术可以解决对极其微弱的光信号成像的问题。在强光信号激励下，光电阴极发射的光电子很多，这些光电子经倍增管和信号放大电路后产生的脉冲互相重叠，输出信号为这些脉冲信号的集合。当光信号较弱时，对应每个光子产生的输出脉冲互相独立，光信号可用脉冲计数法测量，即每秒脉冲数。当使用的探测器是二维成像器件时称为计数成像。

2.紫外传感器(紫外透镜、日盲滤光片、日盲ICCD探测器等)设计技术；

紫外通道仅对放电发光区域进行成像，看不到场景，为了能定位放电位置，采用了图像融合算法将紫外图像叠加到了可见光图像上，从而显示出放电位置。

3.基于FPGA和DSP的图像双光谱图像检测硬件平台的设计技术；

CCD驱动时序可以采用直接数字电路、单片机、EPREOM、微处理器或数字信号处理器(DSP)和可编程器件产生。FPGA是第4代可编程器件，它将定制ASIC的高集成度、高性能的优点与可编程器件灵活性优点结合在一起，从而避免了定制ASIC的高成本、高风险、长设计周期和可编程器件密度低的缺点。

4.基于小波变换的适合双光谱图像检测系统的图像融合技术；

图像融合是采用某种算法对两幅或多幅不同的图像进行综合与处理，最终形成一幅新的图像。根据融合处理所处的不同阶段，图像融合的处理通常可在以下三个不同层次上进行：像素级融合、特征级融合和判决级融合。