[发明专利]一种测试通讯接口规范的方法及装置

说明书

本发明公开了一种测试通讯接口规范的方法及装置，包括：利用Bert测试对测试板卡进行实际验证，得到测试板卡的误码率，并根据测试板卡的误码率将测试板卡分为成功样本和失败样本；利用仿真软件对成功样本和失败样本的通道分别建模并仿真，得到成功样本和失败样本的S参数；分析成功样本和失败样本的S参数，得到成功样本和失败样本的插动损耗的概率密度分布状况和回波损耗的概率密度分布状况；利用时域模型对成功样本和失败样本的S参数进行时域仿真并分析，得到成功样本和失败样本的眼高概率密度分布状况和眼宽概率密度分布状况。可见，在本实施例中通过利用仿真和量测相结合的方式来定义通讯接口规范。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，更具体地说，涉及一种测试通讯接口规范的方法及装置。

背景技术

在通信系统设计中，通常会遇到许多不同类型的信号通信接口，有些信号是有既定的设计规范的，有些信号没有既定的协会规范，或者这种规范还没有被普遍定义下来。要对此种接口定义规范，如果采用常规方法，采用测试板多次测试验证的方法，需要非常大的工作量和耗费大量的人力物力。

因此，如何测试通讯接口规范是本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试通讯接口规范的方法及装置，以测试通讯接口规范。

为实现上述目的，本发明实施例提供了如下技术方案：

一种测试通讯接口规范的方法，包括：

利用Bert测试对测试板卡进行实际验证，得到测试板卡的误码率，并根据所述测试板卡的误码率将所述测试板卡分为成功样本和失败样本；

利用仿真软件对所述成功样本和所述失败样本的通道分别建模并仿真，得到所述成功样本的第一S参数和所述失败样本的第二S参数；

分析所述第一S参数，得到所述成功样本的第一插动损耗的概率密度分布状况和第一回波损耗的概率密度分布状况；分析所述第二S参数，得到所述失败样本的第二插动损耗的概率密度分布状况和第二回波损耗的概率密度分布状况；

利用时域模型对所述第一S参数进行时域仿真并分析，得到所述成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况；利用时域模型对所述第二S参数进行时域仿真并分析，得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况。

其中，所述利用仿真软件对所述成功样本和所述失败样本的通道分别建模并仿真，得到所述成功样本的第一S参数和所述失败样本的第二S参数，包括：

利用仿真软件对所述成功样本的通道的制程参数变量进行扫描，评估所述成功样本制程因素的影响，得到所述第一S参数；

利用仿真软件对所述失败样本的通道的制程参数变量进行扫描，评估所述失败样本制程因素的影响，得到所述第二S参数。

其中，所述测试板卡为实际板卡或者实际可参考链路。

其中，所述利用时域模型对所述第一S参数进行时域仿真并分析，得到所述成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况；利用时域模型对所述第二S参数进行时域仿真并分析，得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况，包括：

利用构建的时域模型对所述第一S参数进行时域仿真，得到与所述第一S参数相对应的第一时域眼图，并对所述第一时域眼图的眼高和眼宽进行分析，得到所述成功样本的第一眼高概率密度分布状况和第一眼宽概率密度分布状况；

利用构建的时域模型对所述第二S参数进行时域仿真，得到与所述第二S参数相对应的第二时域眼图，并对所述第二时域眼图的眼高和眼宽进行分析，得到所述失败样本的第二眼高概率密度分布状况和第二眼宽概率密度分布状况。

其中，所述时域模型为AMI模型。