[发明专利]光学测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 201610106413.7 | 申请日： | 2016-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN107131955A | 公开（公告）日： | 2017-09-05 |
| 发明（设计）人： | 潘鼎翔;杨顺全 | 申请（专利权）人： | 富泰华工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/51 | 分类号： | G01J3/51 |
| 代理公司： | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司44334 | 代理人： | 谢志为 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市宝安区观澜街道大三社*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 测量方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种光学测量装置及测量方法。
背景技术
在现有技术中，一般使用密度计、色度计或光度计对光源颜色进行测量。然而，由于各种因素的干扰，例如外界环境因素或仪器本身的误差，通过上述仪器测量颜色常常导致测量结果的精确度不足。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种光学测量装置及测量方法，以解决上述技术问题。
本发明提供一种光学测量装置，用于测量一有源光源的颜色，该有源光源发射出与像素对应的待测光线，该光学测量装置包括：
分光单元，用于接收该待测光线，并将所接收到的待测光线分解成对应的第一光线、对应的第二光线及对应的第三光线；
滤波单元，用于过滤该第一光线、第二光线或第三光线而对应产生第一过滤光线、第二过滤光线及第三过滤光线；
感光单元，用于接收该第一过滤光线、第二过滤光线及第三过滤光线而对应生成第一感测数据、第二感测数据及第三感测数据；
光谱仪，用于接收该待测光线，并生成该待测光线的第一颜色数据；及
处理单元，用于根据该感光单元生成的第一感测数据、第二感测数据及第三感测数据计算出该待测光线的第二颜色数据，根据该第一颜色数据及该第二颜色数据生成一校准矩阵，通过该生成的校准矩阵对该第二颜色数据进行校准，并输出校准后的颜色数据。
本发明还提供一种光学测量方法，用于测量一有源光源的颜色，该有源光源发射出与像素对应的待测光线，该方法包括以下步骤：
通过一分光单元接收该待测光线，并将所接收到的待测光线分解成对应的第一光线、对应的第二光线及对应的第三光线；
通过一滤波单元过滤该第一光线、第二光线或第三光线而对应产生第一过滤光线、第二过滤光线及第三过滤光线；
通过一感光单元接收该第一过滤光线、第二过滤光线及第三过滤光线而对应生成第一感测数据、第二感测数据及第三感测数据；
通过一光谱仪接收该待测光线，并生成该待测光线的第一颜色数据；
根据该感光单元生成的第一感测数据、第二感测数据及第三感测数据计算出该待测光线的第二颜色数据；
根据该第一颜色数据及该第二颜色数据生成一校准矩阵；及
通过该生成的校准矩阵对该第二颜色数据进行校准，并输出校准后的颜色数据。
相较于现有技术，本发明提供的光学测量装置及测量方法通过一光谱仪对光源测量颜色的结果进行校准，有效提高了测量的精确度。
附图说明
图1为本发明一实施方式中的光学测量装置的应用结构图。
图2为本发明一实施方式中的光学测量方法的流程图。
主要元件符号说明
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