[发明专利]触摸按键的触发检测方法及触发检测装置在审
申请号: | 201610105352.2 | 申请日: | 2016-02-25 |
公开(公告)号: | CN105790747A | 公开(公告)日: | 2016-07-20 |
发明(设计)人: | 林跃跃;王雪峰 | 申请(专利权)人: | 广东美的厨房电器制造有限公司;美的集团股份有限公司 |
主分类号: | H03K17/96 | 分类号: | H03K17/96 |
代理公司: | 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 | 代理人: | 尚志峰;汪海屏 |
地址: | 528311 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 触摸 按键 触发 检测 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及触摸按键技术领域,具体而言,涉及一种触摸按键的触发检测方法和一种触摸按键的触发检测装置。
背景技术
随着家用电器的多样性发展,以及对用户体验关注的深入,现在市场上的家用电器的控制面板方案逐渐采用触摸方案,以达到方便、美观的目标。目前的触摸方案中,大多数采用了电容触摸技术。
随着对触摸面板的外观要求的提高,目前出现了将触摸按键分布在一整块金属板上的触摸方案。但是,由于将触摸按键分布在一整块金属板上,因此在触发某一按键时,也会影响到其它按键的电容值,进而可能会造成误触发。
因此,如何能够实现可靠的按键电容检测,提高按键检测的准确度,避免造成误触发成为亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。
为此,本发明的一个目的在于提出了一种新的触摸按键的触发检测方案,能够实现可靠的按键电容检测,提高了按键检测的准确度,避免了由于触摸面板上的所有触摸按键的按键电容值都发生变化而造成误触发。
为实现上述目的,根据本发明的第一方面的实施例,提出了一种触摸按键的触发检测方法,其中,设置有至少一个触摸按键的触摸面板为金属板,所述金属板上设置有至少一个按键标识,每个所述按键标识用于表示对应的一个触摸按键的位置,所述触摸按键的触发检测方法,包括:
检测所述触摸面板上的每个触摸按键的按键电容值,并确定所述每个触摸按键的按键电容值的变化量;根据所述每个触摸按键的按键电容值的变化量和用于判断触摸按键是否被触发的基准值,确定所述触摸面板上是否有按键触发;其中,在所述触摸面板上的所有触摸按键的按键电容值的变化量均大于或等于第一预定值时,根据所述所有触摸按键的按键电容值,对所述基准值进行更新。
根据本发明的实施例的触摸按键的触发检测方法,通过根据每个触摸按键的按键电容值的变化量和用于判断触摸按键是否被触发的基准值来确定触摸面板上是否有按键触发,使得能够有效检测到是否有按键被触发。同时,由于将触摸按键设置在一整块金属板上,当触发某一按键时,也会影响到其它按键的电容值,因此通过在触摸面板上的所有触摸按键的按键电容值的变化量均大于或等于第一预定值时,根据所有触摸按键的按键电容值对基准值进行更新,使得在触摸面板上的某一按键被触发而引起所有触摸按键的按键电容值都变化时,能够及时对用于判断触摸按键是否被触发的基准值进行更新,进而能够确保实现可靠的按键电容检测,提高按键检测的准确度,避免由于触摸面板上的所有触摸按键的按键电容值都发生变化而造成误触发。
根据本发明的上述实施例的触摸按键的触发检测方法,还可以具有以下技术特征:
根据本发明的一个实施例,根据所述所有触摸按键的按键电容值,对所述基准值进行更新的步骤,具体包括:计算所述所有触摸按键的按键电容值的平均值;将所述平均值作为所述更新后的基准值。
根据本发明的一个实施例,根据所述触摸按键的按键电容值的变化量和用于判断触摸按键是否被触发的基准值,确定所述触摸面板上是否有按键触发的步骤,具体包括:判断所述触摸面板上的任一按键的按键电容值的变化量是否大于或等于所述基准值与第二预定值之和;在判定所述任一按键的按键电容值的变化量大于或等于所述基准值与所述第二预定值之和时,确定所述任一触摸按键被触发。
根据本发明的一个实施例,在判定所述任一按键的按键电容值的变化量大于或等于所述基准值与所述第二预定值之和的步骤之后,以及在确定所述任一触摸按键被触发的步骤之前,还包括:判断所述任一按键的按键电容值的变化量大于或等于所述基准值与所述第二预定值之和的持续时长是否处于预定时长范围内;在判定所述持续时长处于所述预定时长范围内时,执行确定所述任一触摸按键被触发的步骤。
根据本发明的实施例的触摸按键的触发检测方法,通过在判定任一按键的按键电容值的变化量大于或等于基准值与第二预定值之和后,进一步确定持续时长是否在预定时长范围内,可以避免异常情况而导致的误触发问题,确保检测到的按键触发为有效触发。
根据本发明的一个实施例,还包括:若判定所述持续时长大于所述预定时长范围的最大值,则根据所述任一按键的按键电容值的变化量和所述任一按键的按键电容初始值更新所述基准值。
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