[发明专利]基于多通道主控的多CENANDFlash动态块模型及坏块处理方法有效
申请号: | 201610104858.1 | 申请日: | 2016-02-26 |
公开(公告)号: | CN105786407B | 公开(公告)日: | 2017-07-14 |
发明(设计)人: | 黄雪峰;马翼;田达海;彭鹏;杨万云;向平;周士兵 | 申请(专利权)人: | 湖南国科微电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06 |
代理公司: | 长沙正奇专利事务所有限责任公司43113 | 代理人: | 卢宏,王娟 |
地址: | 410131 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 通道 主控 ce nand flash 动态 模型 处理 方法 | ||
1.一种基于多通道主控的多CE NAND Flash动态块模型,其特征在于,包括多个通道、多个LBT块模型,每个通道包括多个片选通道;每个LBT块模型包括多个物理块;多个LBT块模型排列为多行;每个片选通道对应一列物理块,且该列物理块为多个LBT块模型相同位置的物理块;当第n-1个通道的第i-1个片选通道在第m-1个LBT块模型中出现坏块的时候,将第n个通道的第i个片选通道在第m个LBT块模型中的非坏块向上移动到第n-1个通道的第i-1个片选通道的第m-1个LBT块模型中,保证第m-1个LBT块模型的完整性,依此类推,继续处理其余坏块,直至处理完所有的坏块;对于最后一个LBT块模型中剩余的物理块,若满足容量优先,则将该剩余的物理块集合起来建立一个新的静态块模型;若满足性能优先,则对于剩余的物理块,搁置不用。
2.根据权利要求1所述的基于多通道主控的多CE NAND Flash动态块模型,其特征在于,处理完所有坏块的判断标准为:LBT块模型个数的最大值LBT_max=PB_max-PB_bad;其中,PB_max为一个片选通道下的物理块的最大数量,PB_bad为该片选通道下的坏块个数。
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