[发明专利]一种片上随机存取存储器内建自测试方法和装置

权利要求书

1.一种片上随机存取存储器RAM内建自测试BIST方法，其特征在于，包括：

预先设置写入功能模式和测试功能模式，所述写入功能模式包括指令和结束标志，所述测试功能模式包括指令、测试起始地址和结束标志；所述写入功能模式是在Rom和Flash损坏时，通过输入/输出接口指定的；所述写入功能模式中的指令与损坏的Rom和Flash中指令的功能相同；

当RAM BIST模块接收到写入功能模式时，RAM BIST模块将自身切换为RAM写入程序状态，并将写入功能模式中的指令写入RAM，CPU将取值地址映射到对应的RAM，并根据所述取值地址读取指令；

所述测试起始地址为20bits命令字，当RAM BIST模块接收到测试功能模式时，基于March LR算法，通过设置所述20bits命令字对所述测试起始地址进行配置，以从所述测试起始地址开始在RAM执行指令进行测试，并输出测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述写入功能模式中的指令为8bits命令字，结束标志为1bit低电平；

所述方法还包括：所述写入功能模式在测试时钟下降沿发数据，RAM BIST模块在所述测试时钟上升沿采样数据，对写入功能模式硬件译码，执行指令功能。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试功能模式中的指令为8bits命令字，结束标志为1bit低电平；

所述测试功能模式在测试时钟下降沿发数据，RAM BIST模块在所述测试时钟上升沿采样数据，对测试功能模式硬件译码，执行指令功能。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当RAM BIST模块接收到写入功能模式时，RAM BIST模块将自身切换为RAM写入程序状态，并将写入功能模式中的指令写入RAM，CPU将取值地址映射到对应的RAM，并根据所述取值地址读取指令，具体为：

当RAM BIST模块通过I/O接口接收到写入功能模式时，RAM BIST模块将自身切换为RAM写入程序状态，对写入功能模式硬件译码，译码正确后，RAM选择使能，RAM写请求信号有效，RAM BIST模块从取值地址开始，将指令从DIN写入RAM；

在写入RAM完成后，CPU将取值地址映射到对应的RAM，系统复位，RAM选择使能，RAM写请求信号有效，CPU从取值地址开始，从DOUT读取指令。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述当RAM BIST模块接收到测试功能模式时，基于March LR算法，通过设置所述20bits命令字对所述测试起始地址进行配置，以从所述测试起始地址开始在RAM执行指令进行测试，并输出测试结果具体为：

当RAM BIST模块接收到测试功能模式时，获取测试功能模式中的指令、测试起始地址和结束标志，RAM选择使能，基于March LR算法，从测试起始地址开始在RAM执行指令进行测试；

如果在测试过程中未检测到错误，等待测试完成后，输出正确测试结果，所述正确测试结果包括正确标志；

如果在测试过程中检测到错误，等待测试完成后，输出错误测试结果，所述错误测试结果包括错误标志和错误地址。

6.根据权利要求1～5中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：对于片上不同数据宽度、容量的RAM进行并行测试。