[发明专利]阵列基板以及显示面板

说明书

本发明提供了一种阵列基板以及显示面板，阵列基板包括显示区域以及围绕显示区域的边框区域，显示区域设置有公共电极层、触控走线层和栅极层；公共电极层包括多个公共电极单元，触控走线层包括多条与公共电极单元电连接的第一触控走线，栅极层包括多条沿第一方向延伸的栅极走线，所述显示区域还包括多条第二触控走线，所述第二触控走线与所述栅极走线平行，每个所述公共电极单元通过过孔电连接所述第二触控走线；边框区域设置有多个第一开关以及多条沿第二方向延伸的测试引线，第二触控走线的至少一端电连接第一开关，测试引线电连接第一开关。本发明提供的阵列基板以及显示面板改善了显示效果。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种改善面板显示效果的阵列基板以及显示面板。

背景技术

随着人机交互技术的发展，触控技术越来越多地使用在各种显示器上。电容性触控技术由于其耐磨损、寿命长，用户使用时维护成本低，并且可以支持手势识别及多点触控的优点而被广泛地使用。

电容性触控技术根据不同对象之间的电容的检测方式，可以分为自电容式触控技术和互电容式触控技术。自电容式触控技术根据输入对象和电极之间的电容变化来检测输入对象在触摸屏上的存在、位置及运动。互电容式触控技术则根据输入对象导致的电极间的电容变化来检测输入对象在触摸屏上的存在、位置及运动。

在现有技术中，无论自电容触控技术还是互电容触控技术，阵列基板中的公共电极可以复用为触控电极来进行触控检测。进行显示时，向公共电极输入公共电极信号；进行触控时，向公共电极输入触控信号。公共电极的信号传输及公共电极电性检测都需要通过触控走线来实现。

具体而言，参见图1所示现有技术的阵列基板100，阵列基板100沿Y方向的边长大于阵列基板100沿X方向的边长。阵列基板100包括多块复用为触控电极的公共电极110。每块公共电极110通过过孔130与沿Y方向延伸的触控走线120电连接，并通过触控走线120电连接到触控IC140。触控IC140通过各个触控走线120向公共电极110传输公共电极信号或者触控信号来进行显示或触控检测。

为了提高阵列基板100的显示和触控良率，需要对公共电极110的触控和显示功能进行检测。参见图2，为了实现公共电极110的触控和显示功能检测，还需要设置测试引线和开关元件150。每根触控走线120电连接至一个开关元件150的第一极。开关元件150的控制端电连接至测试引线160C，开关元件150的第二极电连接至测试引线160A或160B。当进行测试时，测试引线160C向开关元件150输入控制信号，导通开关元件150，测试引线160A和160B输入不同的电压。当进行显示和触控时，关断开关元件150，各个公共电极110通过图1所示的触控走线120电连接触控IC140。

然而，现有技术中，阵列基板100这样的结构会导致如下问题：

1)与顶端公共电极电连接的触控走线的电阻相比与底端公共电极电连接的触控走线的电阻要大得多，导致在显示严苛画面(dot check/pixel check)时，会出现顶端可见不良的现象；

2)无法通过开关元件和测试引线将公共电极短接来消除上述电阻差异；

3)对于大尺寸(8英寸及以上)的显示面板，其所造成的电阻差异更大，加剧显示不良的现象。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明的目的在于提供一种阵列基板以及显示面板，克服了现有技术存在的技术问题，提高显示面板的显示效果。