[发明专利]一种用于多时间程序存储器的泵体结构及电子装置

说明书

本发明提供一种用于多时间程序存储器的泵体结构和电子装置。所述泵体结构包括：温度检测单元，被配置为用于检测多个不同的温度；泵参考偏置单元，被配置为用于基于所述温度检测单元检测到的所述温度，输出相应的参考偏置；以及泵偏置调节单元，被配置为用于基于所述泵参考偏置单元的输出来调节泵偏置。本发明的用于多时间程序存储器的泵体结构可以用于很宽的温度范围，例如‑40C至125C或更高的应用，并且具有低功耗。

技术领域

本发明涉及半导体领域，具体地，本发明涉及一种用于多时间程序存储器的泵体结构及电子装置。

背景技术

MTP(multiple-time-programmable)存储器是当前新兴的非易失存储器。除了对存储单元的编程和擦除外，对存储单元的数据的正确读出也是整个存储器关键操作。随着应用需求的增加，低电源电压低功耗已经成为非易失存储器的设计和发展方向。由于位线上的各种寄生电容并未随着工作电压的降低和工作电流的下降而有所减小。

针对用于宽范围温度的MTP(多时间程序)存储器应用，需要考虑针对所有范围的温度的泵可驱动性。针对高温度范围，必须满足程序的泵规范并且去除某些性能。特别地，在高温情况下(例如，125C)，MTP单元具有较高的泄露。

因此，需要提供一种用于多时间程序存储器的泵体结构，以解决上面提到的问题。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明通过温度检测单元来使用不同的泵可驱动性，并且通过泵调节器来利用不同的参考偏置。在低温度情形下，使用较低的泵输出水平，而在高温度情形下，泵水平自动增加。

本发明的实施例提供一种用于多时间程序存储器的泵体结构，所述泵体结构包括：温度检测单元，被配置为用于检测多个不同的温度；泵参考偏置单元，被配置为用于基于所述温度检测单元检测到的所述温度，输出相应的参考偏置进而来控制泵输出偏置；以及泵偏置调节单元，被配置为用于基于所述泵参考偏置单元的输出来调节泵偏置泵参考偏置复用单元。

示例性地，所述泵参考偏置复用单元包括偏置通过块，所述偏置通过块包括并联连接的第一开关和第二开关，其中所述第一开关的源极与所述第二开关的源极相连接，所述第一开关的漏极与所述第二开关的漏极相连接。

示例性地，所述泵参考偏置复用单元包括还包括第一反相器，其中所述第一反相器的一端与所述第一开关的栅极相连接，所述第一反相器的另一端与所述第二开关的栅极相连接。

示例性地，所述泵参考偏置复用单元还包括并联连接的第三开关和第四开关，其中所述第三开关的源极与所述第四开关的源极相连接，所述第三开关的漏极与所述第四开关的漏极相连接。

示例性地，所述泵参考偏置复用单元包括还包括第二反相器，其中所述第二反相器的一端与所述第三开关的栅极相连接，所述第二反相器的另一端与所述第四开关的栅极相连接。

本发明的又一实施例提供一种电子装置，包括所述的用于多时间程序存储器的泵体结构。

根据本发明的泵体结构可以用于很宽的温度范围，例如-40C至125C或更高的应用，并且具有低功耗。

附图说明

通过结合附图对本发明实施例进行更详细的描述，本发明的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中，相同的参考标号通常代表相同部件或步骤。

图1为现有技术中的惯常泵体结构的示意性框图；

图2为根据本发明的用于多时间程序存储器的泵体结构的示意性框图；

图3为根据本发明的实施例的用于多时间程序存储器的泵体结构的示意性框图；

图4为根据本发明的实施例的参考复用器块的示意性电路图；