[发明专利]一种高效研磨抛光加工装置有效

专利信息
申请号: 201610084984.5 申请日: 2016-02-15
公开(公告)号: CN105643433B 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: 张欣 申请(专利权)人: 张欣
主分类号: B24B37/28 分类号: B24B37/28;B24B27/00;B24B47/12
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215163 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 高效 研磨 抛光 加工 装置
【说明书】:

发明公开了一种高效研磨抛光加工装置,包括太阳轮、行星轮和内齿圈,所述行星轮中开设有载物孔,工件置于所述行星轮的载物孔内,所述行星轮分别与所述太阳轮和所述内齿圈相啮合。太阳轮、行星轮、内齿圈三者中至少有一个的节曲线不是正圆形,进而使行星轮中心在绕太阳轮中心公转的同时,沿径向移动,行星轮中心至太阳轮中心的距离e不再是恒量,而是研磨抛光时间t的函数,进而改善研磨抛光轨迹的分布均匀性,达到提高精密超精密研磨抛光加工精度和效率的目的。

技术领域

本发明涉及机械制造领域,具体地是涉及一种使用行星机构的高效研磨抛光加工装置。

背景技术

精密、超精密研磨抛光加工是大规模集成电路、LED、计算机磁盘等产品的重要加工工艺,用于获得平整、光滑的表面。该工艺通常使用修整环式或行星轮式研磨抛光设备进行,前者主要用于单面研磨抛光加工,后者主要用于双面研磨抛光加工。研磨抛光加工的主要工具是研磨盘或抛光垫,研磨盘或抛光垫上散布有游离或固着的磨料。磨料相对于被加工工件的运动轨迹中、磨料与被加工表面实际作用的部分,称为研磨抛光轨迹,显然,研磨抛光轨迹在被加工表面的分布均匀性程度,对加工精度和效率有重要影响。

实际加工中,精密超精密研磨抛光加工设备中有两种较为典型:修整环式和行星轮式研磨抛光设备,在实际生产中均有着广泛的应用。修整环式研磨抛光设备结构示意图如图1所示,修整环15为圆筒形,其中空部分称为载物孔,其外壁与修整环保持架14上的滚动轴承13接触。一个或多个修整环15放置在研磨/抛光垫12上。被加工工件17置于修整环15的载物孔11内,被加工工件17的被加工面朝下与研磨/抛光垫12接触,通过负载16向被加工工件17施加加工压力。研磨抛光加工时,研磨/抛光垫12在电机驱动下,绕自身轴线回转;修整环15在研磨/抛光垫12的摩擦及滚动轴承13的支撑作用下,绕自身轴线回转;被加工工件17在研磨/抛光垫12和修整环15的作用下也做回转运动。

图2所示为修整环式研磨抛光设备的运动分析,工件绕O点以角速度ωh自转,研磨/抛光垫绕O’点以角速度ωp自转,O点与O’点的距离为e。建立坐标系xOy、x’O’y’如图2所示,则研磨/抛光垫上一个磨料点A(rp,φ)相对于工件的运动轨迹,即研磨抛光轨迹为

x=rpcos[(ωp-ωh)t+φ]-e·cosωht

y=rpsin[(ωp-ωh)t+φ]+e·sinωht

其中,t为研磨/抛光时间。

行星轮式研磨抛光设备示意图如图3所示,保持架6外圈有齿轮与内齿圈1、太阳轮4啮合,三者构成行星轮系。保持架6上开有与工件5外形相同的孔,工件可置于其中,工件5的厚度较保持架6的厚度略大。研磨抛光加工时,保持架6置于下研磨/抛光垫上,上研磨/抛光垫3与工件5上表面接触,并施加一定的载荷;在太阳轮4的回转作用下,保持架6一方面绕太阳轮4中心公转、另一方面绕自身中心自转,构成行星运动;工件5在保持架6的作用下,相对上研磨/抛光垫和下研磨/抛光垫3运动。

图4所示为行星轮式研磨抛光设备的运动分析,O点为保持架中心,O’点为太阳轮、内齿圈中心。保持架绕O点以角速度ωh自转,同时绕O’点以角速度ωc公转。研磨/抛光垫绕O’点以角速度ωp自转,O点与O’点的距离为e。建立坐标系xOy、x’O’y’如图2所示,则研磨/抛光垫上一个磨料点A(rp,φ)相对于工件的运动轨迹,即研磨抛光轨迹为

x=rpcos[(ωp-ωh)t+φ]-ecos(ωh-ωc)t

y=rpsin[(ωp-ωh)t+φ]+esin(ωh-ωc)t

其中,t为研磨/抛光时间。

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