[发明专利]RFID应用测试系统

说明书

技术领域

本发明RFID应用测试系统涉及电子技术应用领域，是一种为广大中小RFID与物联网应用企业和系统集成商提供RFID技术应用测试服务的测试系统。

背景技术

企业或RFID系统集成商在进行RFID系统现场实施之前，需要对所制订的RFID系统方案进行测试，校核方案的可行性，降低RFID项目的实施风险。上述测试是一种应用测试，是在接近实际应用环境的场景下，对RFID实施方案进行测试，RFID系统实施者可以根据测试结果不断修改和完善方案，并积累RFID项目实施经验，尽可能减少在企业现场实施时出现问题的可能性，这样可以增强企业对RFID技术的信心，有利于RFID技术的应用推广。目前，RFID应用测试技术是推动RFID技术及应用发展的重要基础推动力，特别在RFID与物联网产业发展初期，其作用甚至超过对于RFID软硬件产品进行的标准符合性测试和一致性测试。

国外一些大公司，如IBM、HP等都斥巨资建立了规模庞大的应用测试环境，为形成优化的、可行的RFID解决方案做了大量工作。例如，HP在巴西建立的RFID CoE(Center of Excellence)，主要工作就是推动RFID技术的应用，能进行RFID软硬件产品的性能测试，能按EPC global标准进行闸口门测试、输送线测试等应用环境测试，同时能为应用客户提供RFID技术培训、方案制定、现场实施咨询等应用解决方案服务。EPC global授权了国外一些顶尖的研究机构和大学按标准进行测试服务。

但这些国际大公司和机构建立RFID应用测试环境的模式在国内目前还没有，一方面是因为国内RFID与物联网企业还处于发展初期，还没有国际大公司那样的技术和资金实力，去购买EPC global指定的一些昂贵的RFID测试设备和工具，更没有能力根据自身需求研发RFID测试设备和工具；另一方面，如果每家公司都建立类似HP的应用测试环境，会带来整个社会资源的极大浪费。

发明内容

本发明的目的是针对上述不足之处提供一种RFID应用测试系统，为广大中小RFID与物联网应用企业和系统集成商提供RFID技术应用测试，包括多种场景下的近三十种测试。

本发明RFID应用测试系统是采取以下技术方案实现的：

RFID应用测试系统包括标签性能测试系统、RFID标签位置部署测试系统、基于RFID的智能托盘输送分拣测试系统、基于RFID的智能包装箱物品输送分拣测试系统、单品环形输送测试系统、智能货架测试系统和仓库闸口门数据采集测试系统；

所述标签性能测试系统包括标签性能测试仪、标签性能测试读写器、标签性能测试天线、标签性能测试天线固定支架和标签性能测试程控转台，标签性能测试天线固定支架设置在标签性能测试程控转台一侧，标签性能测试天线固定支架上设有滑轨，标签性能测试天线安装在标签性能测试天线固定支架上，所述标签性能测试天线能够沿滑轨上下移动，标签性能测试读写器安装在标签性能测试固定支架底部；标签性能测试天线通过馈线与标签性能测试读写器连接，标签性能测试仪通过网线与标签性能测试读写器相连，标签性能测试仪通过RS232串行通信接口与标签性能测试程控转台相连；

所述标签性能测试仪采用工控机，在标签性能测试仪上装有RFID标签专用测试模块，标签性能测试仪通过该专用测试模块控制标签性能测试程控转台，并读取标签性能测试天线采集到的RFID信号，完成标签性能参数的测试。

所述标签性能测试系统还具有电波暗室，测试时将待测RFID标签和RFID标签性能测试系统置于电波暗室中，以减少外界电磁波信号的干扰。

所述RFID标签专用测试模块，包括：

读取距离测试子模块，用于测试读取距离与频率的关系；

写入距离测试子模块，用于测试写入距离与频率的关系；

标签角度特性测试子模块，用于测试不同方向角度所对应的最小响应功率。

所述标签性能测试系统用于读取距离测试、写入距离测试以及标签角度特性测试。

所述读取距离测试子模块的工作过程包括如下步骤：

1）在读取距离测试子模块的读取距离测试界面设置最大频率、最小频率以及测试的频率步长后开始测试；

2）在进行测试时，读取距离测试子模块接收标签性能测试天线传来的每个测试点的数据，并将该数据逐个描绘在Power vs. Frequency图表（即功率vs.频率表）中，所述测试点的数据即每个频率点所对应的最小响应功率；