[发明专利]一种矩形回线源瞬变电磁探测的方法和装置

权利要求书

1.一种矩形回线源瞬变电磁探测的方法，其特征在于，包括：

采用矩形回线源探测实际回线对应的瞬变电磁场数据；

对探测到的实际回线对应的瞬变电磁场数据进行坐标变换，获得以每一条发射边框为轴的多个坐标系对应的瞬变电磁场数据；

通过叠加计算获得实际回线源的瞬变电磁场总场数据；

对比矩形回线与实际回线的响应，确定由回线形状改变引起的相对误差，进行定量分析，确定适用于实际回线的响应计算的校正因子；

根据获得的校正因子代入适用于矩形回线的视电阻率公式，确定实际回线内任一点的视电阻率；

对探测到的实际回线对应的瞬变电磁场数据进行坐标变换，获得以每一条发射边框为轴的多个坐标系对应的瞬变电磁场数据，包括：

将实际回线的单一坐标系统转换成以每一条发射边框为轴的多个坐标系；

在每一条发射边框的坐标系下分别利用线积分计算所述边框产生的场值响应。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：通过对比矩形回线与实际回线的响应，确定由回线形状改变引起的相对误差，进行定量分析，确定适用于实际回线的响应计算的校正因子，包括：

对比矩形回线与实际回线等周长或等磁矩下的场值响应；

通过对比的结果确定由等周长或磁矩的改变形状的回线引起的相对误差，进行定量分析，确定适用于实际回线的响应计算的校正因子。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，根据获得的校正因子代入适用于矩形回线的视电阻率公式，确定实际回线内任一点的视电阻率，包括：

根据获得的正演响应结果和校正因子，利用迭代方法计算实际回线内任一点的视电阻率。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于：还包括：

确定实际回线的探测深度。

5.一种矩形回线源瞬变电磁探测的装置，其特征在于，包括：

采集模块，用于采用矩形回线源探测实际回线对应的瞬变电磁场数据；

坐标变换模块，用于对探测到的实际回线对应的瞬变电磁场数据进行坐标变换，获得以每一条发射边框为轴的多个坐标系对应的瞬变电磁场数据；

响应模块，用于通过叠加计算获得实际回线源的瞬变电磁场总场数据；

对比模块，用于对比矩形回线与实际回线的响应，确定由回线形状改变引起的相对误差，进行定量分析，确定适用于实际回线的响应计算的校正因子；

视电阻率模块，用于根据获得的校正因子代入适用于矩形回线的视电阻率公式，确定实际回线内任一点的视电阻率；

所述坐标变换模块对探测到的实际回线对应的瞬变电磁场数据进行坐标变换，获得以每一条发射边框为轴的多个坐标系对应的瞬变电磁场数据，包括：

将实际回线的单一坐标系统转换成以每一条发射边框为轴的多个坐标系；

在每一条发射边框的坐标系下分别利用线积分计算所述边框产生的场值响应。

6.如权利要求5所述的装置，其特征在于：所述对比模块通过对比矩形回线与实际回线的响应，确定由回线形状改变引起的相对误差，进行定量分析，确定适用于实际回线的响应计算的校正因子，包括：

对比矩形回线与实际回线等周长或等磁矩下的场值响应；

通过对比的结果确定由等周长或磁矩的改变形状的回线引起的相对误差，进行定量分析，确定适用于实际回线的响应计算的校正因子。

7.如权利要求5所述的装置，其特征在于，所述视电阻率模块根据获得的校正因子代入适用于矩形回线的视电阻率公式，确定实际回线内任一点的视电阻率包括：

根据获得的正演响应结果和校正因子，利用迭代方法计算实际回线内任一点的视电阻率。

8.如权利要求5所述的装置，其特征在于：还包括：

探测深度模块，用于确定实际回线的探测深度。