[发明专利]使用串联飞行时间质谱仪测量碎片离子质谱

权利要求书

1.一种使用飞行时间质谱仪测量碎片离子质谱的方法，该飞行时间质谱仪包含离子源、飞行路径、反射器和离子检测器，其中，

(a)每次使用不同的加速电压来获得至少两个混合飞行时间谱，该混合飞行时间谱包含来自一个以上母离子种类的碎片离子的信号，并且碎片离子在反射器之前的飞行路径中产生；和

(b1)相互比较混合飞行时间谱，以由此识别源自一个母离子种类的那些碎片离子的信号；和/或

(b2)确定混合飞行时间谱中碎片离子种类的飞行时间并用于计算碎片离子和相关母离子的质荷比。

2.根据权利要求1的方法，其中，在两个混合飞行时间谱中的每一个谱中选择一个源自相同碎片离子种类的信号，并求下列等式的解来确定碎片离子和相关母离子的质荷比：

T₁＝Sys(m/q_m，M/q_M，P₁)

T₂＝Sys(m/q_m，M/q_M，P₂)，

其中，M和q_M分别是母离子的质量和电荷；m和q_m分别是碎片离子的质量和电荷；T₁和T₂是根据混合飞行时间谱确定的碎片离子种类的两个信号的飞行时间；P₁和P₂是用于获得飞行时间谱的加速电压的值；以及Sys是飞行时间质谱仪的系统函数，其中碎片离子的飞行时间是仪器参数以及碎片离子和相关母离子的质荷比的函数。

3.根据权利要求1的方法，其中在几个混合飞行时间谱中的每一个谱中选择一个源自相同碎片离子种类的信号，并确定作为回归方程T_i＝Sys(m/q_m，M/q_M，P_i)的参数的碎片离子和相关母离子的质荷比，其中M和q_M分别是母离子的质量和电荷；m和q_m分别是碎片离子的质量和电荷；T_i是根据混合飞行时间谱而确定的碎片离子种类的信号的飞行时间；P_i是用于获得飞行时间谱的加速电压的值；以及Sys是飞行时间质谱仪的系统函数，其中碎片离子的飞行时间是仪器参数以及碎片离子和相关母离子的质荷比的函数。

4.根据权利要求1的方法，其中至少一个混合飞行时间谱具有母离子的额外信号，通过比较混合飞行时间谱来将源自一个母离子种类的那些碎片离子的信号指定给相应的母离子种类。

5.一种使用飞行时间质谱仪测量碎片离子质谱的方法，该飞行时间质谱仪包含离子源、飞行路径、反射器和离子检测器，其中，

(a)获得混合飞行时间谱，该谱包含一个以上母离子种类的碎片离子的信号，并且碎片离子在反射器之前的飞行路径中产生，

(b)选择碎片离子的同位素模式中的两个信号S₁和S₂，并根据混合飞行时间谱来确定它们的飞行时间T₁和T₂，以及

(c)通过求下列等式的解计算碎片离子和相关母离子的质荷比：

T₁＝Sys(m/q_m，M/q_M)

T₂＝Sys((m+n·Da)/q_m，(M+n·Da)/q_M)，

其中，M和q_M分别是母离子的质量和电荷；m和q_m分别是碎片离子的质量和电荷；所选同位素具有n道尔顿的质量差；以及Sys是飞行时间质谱仪的系统函数，其中碎片离子的飞行时间是碎片离子和相关母离子的质荷比的函数。