[发明专利]数据采集芯片的测试系统、装置及其控制方法

说明书

本发明公开了一种数据采集芯片的测试装置及其控制方法，该装置包括：接收数据采集芯片采集的多帧采样数据的数据采集模块；存储模块；计算多个数据采样点的噪声，以得到噪声测试结果的处理模块；将所述噪声测试结果上传的数据收发模块；控制模块。本发明实施例的测试装置，通过计算多个数据采样点的噪声，从而只需上传噪声测试结果，提高了芯片测试的效率，降低了芯片测试的成本，更好地保证测试的可靠性。本发明还公开了一种数据采集芯片的测试系统。

技术领域

本发明涉及指纹识别技术领域，特别涉及一种数据采集芯片的测试系统、装置及其控制方法。

背景技术

相关技术中，如图1所示，对指纹识别芯片的测试系统一般会同时测试多颗芯片，从而提高测试效率。其中，由于ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)并不具备计算功能，所以在测试时，ATE先采集多片DUT(Device Under Test，被测器件)的测试数据，然后将多片DUT的测试数据上传到PC端，以在PC端完成每片DUT的噪声计算。噪声计算一般为求多帧数据中同一个像素点位置数据的方差。

然而，在上述系统中，由于ATE与PC之间的数据传输方式为串行传输，一旦采集数据量很大时，数据传输需耗费大量时间，尤其是在进行芯片的量产测试时，提高了大量的测试成本，并且单纯采用求方差的计算方式进行噪声计算，一旦噪声表现为冒点，如图2所示，则数据的方差并不能准确反应出该像素点的噪声大小，从而影响指纹识别芯片的稳定性，进而降低指纹识别的准确率。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

为此，本发明的一个目的在于提出一种数据采集芯片的测试装置，该装置可以提高芯片测试的效率，降低芯片测试的成本。

本发明的另一个目的在于提出一种数据采集芯片的测试系统。

本发明的再一个目的在于提出一种数据采集芯片的测试装置的控制方法。

为达到上述目的，本发明一方面实施例提出了一种数据采集芯片的测试装置，所述数据采集芯片包括多个数据采样点，所述测试装置包括：数据采集模块，所述数据采集模块与数据采集芯片相连，接收所述数据采集芯片采集的多帧采样数据；存储模块，所述存储模块用于存储所述多帧采样数据；处理模块，所述处理模块用于根据所述多帧采样数据计算所述多个数据采样点的噪声，以得到噪声测试结果；数据收发模块，所述数据收发模块用于将所述噪声测试结果上传至上位机；以及控制模块，所述控制模块用于对所述数据采集模块、所述存储模块、所述处理模块和所述数据收发模块进行控制。

本发明实施例的数据采集芯片的测试装置，根据多帧采样数据计算多个数据采样点的噪声，以通过计算多个数据采样点的噪声得到噪声测试结果，将噪声测试结果上传至上位机，提高了芯片测试的效率，降低了芯片测试的成本，更好地保证测试的可靠性。

另外，根据本发明上述实施例的数据采集芯片的测试装置还可以具有以下附加的技术特征：

可选地，在本发明的一个实施例中，所述数据采集芯片为指纹识别芯片。

进一步地，在本发明的一个实施例中，所述存储模块包括：存储器模块，用于存储所述多帧采样数据；存储器控制模块，所述存储器控制模块分别与所述存储器模块和所述控制模块相连，以在所述控制模块的控制下控制所述存储器模块进行多帧采样数据的读写。