[发明专利]测试校准包括数字接口的多入多出天线阵列的系统和方法

权利要求书

1.一种测试系统，其包括：

测试腔室，其包括：空间间隔探针天线的阵列；以及定位器，其配置为支撑具有数字天线元件的阵列的待测试设备(DUT)；

射频(RF)信号发生器和分析器，其配置为将RF测试信号发送到空间间隔探针天线以及从空间间隔探针天线接收RF测试信号；

RF切换器组件，其配置为将所述RF信号发生器和分析器有选择地耦合到所述测试腔室内的空间间隔探针天线的阵列；

数字测试仪器，其包括：

至少一个数字信号发生器和分析器，其配置为在发射机测试模式下生成去往DUT的数字天线元件的数字测试信号，并且在接收机测试模式下分析从DUT的数字天线元件接收到的数字测试信号，

可编程硬件设备，其配置为实现用于所生成的接收到的数字测试信号的自定义数字光纤接口协议，以及

数字光纤接口，其配置为将可编程硬件设备耦合到DUT的数字天线元件的阵列，并且收发去往/来自DUT的数字天线元件的阵列的数字测试信号；

同步模块，其配置为对RF信号发生器和分析器以及数字测试仪器进行同步；以及

测试控制器，其配置为在DUT的测试期间控制定位器、RF信号发生器和分析器、RF切换器组件、数字测试仪器的操作。

2.如权利要求1所述的测试系统，其中，所述定位器能够在所述测试腔室内旋转；并且其中，所述测试控制器配置为在DUT的测试期间控制所述定位器的旋转。

3.如权利要求1所述的测试系统，其中，所述可编程硬件设备包括：

分路器/组合器，其耦合到所述至少一个数字信号发生器和分析器；

时间延迟模块，其配置为对于从所述至少一个数字信号发生器和分析器向DUT的每一个数字天线元件正生成的测试信号，实现不同的时间延迟；以及

协议模块，其用于实现用于所生成的数字测试信号的自定义数字光纤接口协议。

4.如权利要求1所述的测试系统，其中，所述可编程硬件设备包括：

分路器/组合器，其耦合到所述至少一个数字信号发生器和分析器；

校准模块，其配置为在波束测试模式下实现用于DUT的每一个数字天线元件的校准系数；

波束加权模块，其配置为在波束测试模式下在期望的方向上将波束加权应用于DUT的每一个数字天线元件以指引波束；以及

协议模块，其用于实现用于所生成的数字测试信号的自定义数字光纤接口协议。

5.如权利要求4所述的测试系统，其中，定位器能够在测试腔室内的方位角平面和俯仰平面中旋转；并且其中，测试控制器配置为在波束测试模式期间控制所述定位器的旋转。

6.一种测试具有数字天线元件的阵列的待测试设备(DUT)的方法，所述方法包括：

将DUT定位在包括空间间隔探针天线的阵列的测试腔室中的定位器上；

使用射频(RF)信号发生器和分析器将RF测试信号发送到空间间隔探针天线以及从空间间隔探针天线接收RF测试信号；

通过RF切换器组件有选择地将RF信号发生器和分析器耦合到所述空间间隔探针天线的阵列；

使用数字测试仪器测量对DUT的每个数字天线元件的宽带信道冲击响应，所述数字测试仪器包括：

至少一个数字信号发生器和分析器，其在发射机测试模式下生成去往DUT的数字天线元件的数字测试信号，并且在接收机测试模式下分析从DUT的数字天线元件接收到的数字测试信号，

可编程硬件设备，其实现用于所生成的接收到的数字测试信号的自定义数字光纤接口协议，以及

数字光纤接口，其将所述可编程硬件设备耦合到DUT的数字天线元件的阵列，并且收发去往/来自DUT的数字天线元件的阵列的数字测试信号；

使用同步模块对所述RF信号发生器和分析器以及所述数字测试仪器进行同步；以及

使用测试控制器在DUT的测试期间控制所述定位器、所述RF信号发生器和分析器、所述RF切换器组件、所述数字测试仪器的操作。