[发明专利]一种可调谐微测辐射热计像元结构及像元阵列有效

专利信息
申请号: 201610072757.0 申请日: 2016-02-02
公开(公告)号: CN105737993B 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 李聪科;李辉 申请(专利权)人: 烟台睿创微纳技术股份有限公司
主分类号: G01J5/20 分类号: G01J5/20
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 王澎
地址: 264006 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 调谐 辐射热 计像元 结构 阵列
【权利要求书】:

1.一种可调谐微测辐射热计像元阵列,其特征在于:包括像元结构,所述像元结构设置有多个,多个所述像元结构的反射层(13)共用一个或多个第二支撑装置(16),形成反射层(13)平面内的多支撑结构;

像元结构包括衬底(11)、底部电极(12)、反射层(13)和吸收层(14),所述底部电极(12)固定置于所述衬底(11)的上端面上,所述衬底(11)上设置有立柱,所述立柱上固定设置有第一支撑装置(17),所述吸收层(14)与所述第一支撑装置(17)固定连接,且所述吸收层(14)处于所述底部电极(12)的上方,所述吸收层(14)的上端固定设置有热敏材料(15);所述反射层(13)置于所述底部电极(12)和吸收层(14)之间,所述反射层(13)通过可移动的第二支撑装置(16)与所述立柱连接,所述反射层(13)与所述吸收层(14)之间构成法布里-珀罗谐振腔;所述反射层(13)接入基准电位,所述底部电极(12)接入静电驱动电压,所述反射层(13)和底部电极(12)之间形成静电力推动反射层(13)纵向移动;

所述静电驱动电压V:

其中n为第二支撑装置(16)数目,E为第二支撑装置(16)的弹性模量,S′为单个第二支撑装置(16)的横截面积,L′为单个第二支撑装置(16)的长度,Δd为腔长变化量,d为初始腔长,∈为真空介电常数,S为反射层(13)与底部电极(12)的正对面积;

所述热敏材料(15)吸收并转化红外辐射能量;多个所述像元结构排列组成像元阵列结构。

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