[发明专利]计算机断层成像伪影校正方法及装置

权利要求书

1.一种计算机断层成像伪影校正方法，其特征在于，包括：

使用计算机断层设备进行模体扫描；

设定骨组织由第一物质及第二物质组成，获取不同厚度的所述第一及第二物质组合在断层扫描系统的理论投影值；

对该理论投影值进行第一物质硬化校正，获取第一物质硬化校正后投影值；

计算不同厚度的所述第一物质及第二物质组合在该断层扫描系统的理想投影值；

根据所述第二物质的厚度、第一及第二物质的理想投影值及第一物质硬化校正后投影值，获得骨硬化校正系数；

使用所述骨硬化校正系数进行伪影校正。

2.根据权利要求1所述的伪影校正方法，其特征在于，还包括：

获取使所述模体的测量投影值与理论投影值相等时的每个探测单元对应的等效滤过厚度。

3.根据权利要求1所述的伪影校正方法，其特征在于，所述模体为厚度及材料已知的均匀模体。

4.根据权利要求2所述的伪影校正方法，其特征在于，所述模体的材料为水或有机玻璃。

5.根据权利要求1所述的伪影校正方法，其特征在于，所述第一物质硬化校正包括：

计算不同厚度第一物质在该断层扫描系统的理论投影值及理想投影值；

对该理论投影值及理想投影值进行多项式拟合，获得第一物质硬化校正系数；

使用该第一物质硬化校正系数进行校正。

6.根据权利要求1所述的伪影校正方法，其特征在于，所述根据所述第二物质厚度、理想投影值及第一物质硬化校正后投影值，获得骨硬化校正系数包括：

以第二物质厚度为自变量，以理想投影值及第一物质硬化校正后投影值之差为因变量进行多项式拟合，获得骨硬化校正系数。

7.根据权利要求1所述的伪影校正方法，其特征在于，所述根据所述第二物质厚度、理想投影值及第一物质硬化校正后投影值，获得骨硬化校正系数包括：

以第一物质厚度、第二物质厚度为自变量，以理想投影值及第一物质硬化校正后投影值之差为因变量进行曲面拟合，获得骨硬化校正系数。

8.根据权利要求1所述的伪影校正方法，其特征在于，所述第一物质为水，所述第二物质为含钙物质。

9.根据权利要求8所述的伪影校正方法，其特征在于，所述第二物质为磷酸钙。