[发明专利]电子装置及其按键状态的检测方法

说明书

本发明提供一种电子装置及其按键状态的检测方法，电子装置包括按键模块、按键控制电路、具校正机制的转换电路与处理器。按键控制电路检测按键模块的按键是否被按压，若检测结果为是，按键控制电路对每一个按键的被按压状态进行扫描以得到粗略扫描结果。具校正机制的转换电路用以执行电子装置的其他系统功能。当处理器根据粗略扫描结果而判断至少一个按键未被按压时，具校正机制的转换电路被切换以支持对上述至少一个按键的被按压状态的重新扫描运作。本发明不仅可精准地判断出按键的被按压状态，还可提高电子装置的电路资源利用率。

技术领域

本发明涉及一种电子装置，尤其涉及一种可避免按键误判情况的电子装置及其按键状态的检测方法。

背景技术

请参照图1，图1显示已知的键盘装置100。键盘装置100中可包括按键SW1～SW4以及比较器10、比较器20。按键SW1耦接在驱动线DL1与感测线SL1之间；按键SW2耦接在驱动线DL1与感测线SL2之间；按键SW3耦接在驱动线DL2与感测线SL1之间；按键SW4耦接在驱动线DL2与感测线SL2之间。比较器10耦接到感测线SL1以接收电压信号SV1，并将电压信号SV1与参考电压Vref进行比较。同样地，比较器20耦接到感测线SL2以接收电压信号SV2，并将电压信号SV2与参考电压Vref进行比较。

在进行按键SW1～SW4的被按压状态的检测动作时，可将驱动线DL1驱动至一电压位准且将驱动线DL2驱动至另一电压位准。按键SW1及按键SW2可在驱动线DL1被驱动至上述电压位准时，依据其被按压的状态而分别通过感测线SL1、感测线SL2传送出相应的电压信号SV1、电压信号SV2至比较器10、比较器20，再由比较器10、比较器20将电压信号SV1、电压信号SV2与参考电压Vref进行比较以判断出按键SW1、按键SW2的被按压状态。同样地，可将驱动线DL2驱动至一电压位准且将驱动线DL1驱动至另一电压位准。按键SW3及按键SW4可在驱动线DL2被驱动至上述电压位准时，依据其被按压的状态而通过感测线SL1、感测线SL2传送出相应的电压信号SV1、电压信号SV2至比较器10、比较器20，再由比较器10、比较器20将电压信号SV1、电压信号SV2与参考电压Vref进行比较以判断出按键SW3、按键SW4的被按压状态。

可以理解的是，当键盘装置中的按键的数量越多而导致键盘装置中的感测线的数量增加时，将使耦接在感测在线以进行电压比较的比较器的数量也需越多。然而，上述这些比较器会因为制程上的偏置而产生误差，可能会对按键的被按压状态产生误判。因此，上述的每一个比较器都必须进行校正(calibration)以取得其偏差值(offset)，如此方能精准地检测出相对应的按键的被按压状态。由于上述的按键状态的检测方式必须储存每一个比较器的偏差值，故会耗费较多的电路资源。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种电子装置及其按键状态的检测方法，可将电子装置中用以负责其他系统功能(例如温度控制功能或电量监控功能等)且具备校正机制的转换电路进行动态切换，以用来支持电子装置的按键状态的扫描运作。如此一来，除了可精准地判断出按键的被按压状态，还可提高电子装置的电路资源利用率。