[发明专利]一种检测高光倒角大小边的装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及检测领域，特别是涉及一种检测高光倒角大小边的装置及方法。

背景技术

高光倒角边是指利用高转速、高稳定性刀具铣削出镜面效果的光亮带，遮蔽难控制质量的拐角，增加美观度；大小边是指在高光倒角加工过程中，由于夹具精度低、电池盖厚度不一、主轴刚度差等原因导致的同一产品的不同位置高光倒角尺寸不一致。

现阶段对于高光倒角大小边不良的检测完全依靠人眼判断。由于高光倒角很难做到完全一致，如何判断是否合格则依赖检验人员的经验。通常的做法是检验人员签限定样板，即合格的临界样本，后续人员以此为参照，再通过肉眼判断。然而，通过人眼判断过于主观，且要求检测人员有一定的经验。

以手机电池盖为例，由于手机电池盖的侧边很薄，高光倒角非常小，通常只有0.5mm，且高光边容易划伤。划伤是电池盖主要的不良之一，高光边加工是电池盖加工的倒数第二道工序，成本积累高，这也限制了检具对于高光边尺寸的检测；而且签样标准没有量化，比较模糊，会引起后续交货过程的纠纷。

发明内容

本发明提供了一种检测高光倒角大小边的装置及方法，以至少解决现有技术高光倒角非常小、且高光边容易划伤，只能根据经验人为的通过肉眼检测高光倒角大小边是否符合标准，没有一个量化的标准，且肉眼判断误差较大的问题。

一方面，本发明提供一种检测高光倒角大小边的装置，包括：点光源、待测件固定装置和投影刻度板；其中，所述待测件固定装置用于固定待测件；所述点光源，位于所述待测件固定装置和所述投影刻度板之间，照射所述待测件，以使所述待测件反射的光线呈现在所述投影刻度板上；所述投影刻度板接收所述待测件反射的光线，并对所述光线的投影区域进行刻度测量。

进一步，所述点光源位于所述待测件固定装置和所述投影刻度板之间，包括：所述点光源与所述待测件固定装置之间的水平距离小于所述点光源与所述投影刻度板之间的水平距离。

进一步，所述装置还包括：遮光板，位于所述点光源和所述投影刻度板之间。

进一步，所述遮光板位于所述点光源和所述投影刻度板之间，包括：所述遮光板与所述点光源之间的水平距离小于所述遮光板与所述投影刻度板之间的水平距离。

进一步，所述待测件固定装置包括：固定支架、检测台、夹具固定架和夹具；其中，所述固定支架固定所述点光源和所述遮光板；所述检测台包括基座和台柱，所述台柱具有第一固定端和第二固定端，所述第一固定端与所述固定支架连接，所述第二固定端与所述夹具固定架连接，所述夹具固定在所述夹具固定架上。

进一步，在所述夹具通过吸附的方式将所述待测件夹持固定的情况下，所述装置还包括：抽气管，所述抽气管上设置抽气阀，所述抽气管贯穿所述夹具固定架和所述夹具，当所述抽气阀工作时，所述待测件被吸附固定在所述夹具上。

进一步，所述夹具设置有卡接件。

进一步，所述检测台、所述夹具固定架和所述夹具表面均为哑光表面。

另一方面，本发明还提供了一种检测高光倒角大小边的方法，应用上述的检测高光倒角大小边的装置，包括：将待测件固定，并使用点光源照射高光倒 角；通过投影刻度板接收所述高光倒角镜面反射得到的投影区域；判断所述投影区域覆盖的长度是否超过预定长度；在所述投影的区域覆盖的长度未超过所述预定长度的情况下，确定当前高光倒角符合检验标准。

进一步，所述方法还包括：依次检测所述待测件的各个高光倒角；在所有高光倒角均符合所述检验标准的情况下，确定所述待测件合格。

本发明将待测件固定在待测件固定装置，再通过位于待测件固定装置和投影刻度板之间的点光源照射待测件，使得待测件的高光倒角反射的高光投影落在投影刻度板上，通过投影刻度板对其投影区域进行测量，来判断其是否符合检验标准，该检测高光倒角大小边的装置提供了一个可以量化的检测标准，方便操作人员进行检测，解决了现有技术高光倒角非常小、且高光边容易划伤，只能根据经验人为的通过肉眼检测高光倒角大小边是否符合标准，没有一个量化的标准，且肉眼判断误差较大的问题。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1是本发明实施例中检测高光倒角大小边的装置的结构示意图；

图2是本发明实施例中检测高光倒角大小边的方法的流程图；

图3是本发明优选实施例中检测高光倒角大小边的装置的设计原理示意图；