[发明专利]化学机械抛光工艺后光刻对准标记的制作方法

说明书

技术领域

本发明涉及半导体集成电路制造工艺领域，特别涉及一种在化学机械抛光工艺后制作光刻对准标记的方法。

背景技术

为了使器件的性能更加优化，通常要求器件具有更加平坦的场域(Active Field,以下简称ACT)。在涉及浅沟槽隔离(Shallow Trench Isolation，以下简称STI)工艺的器件前段制程中，采用化学机械抛光(Chemical Mechanical Polishing,以下简称CMP)主要是将晶圆表面的氧化层磨平并停止在氮化硅层上。然而，采用一般工艺的CMP制程后晶圆表面仍然会有一些高低起伏的图案，如图1所示，而采用改进后的CMP(简称D-CMP)制程后，晶圆表面会十分平坦，如图2所述，虽然这种D-CMP工艺可以改善器件表面的平坦度，但是同时也给后续的光刻工艺造成了对准困难的问题。

众所周知，对准是评价光刻工艺好坏的一个重要指标，它会限制集成精度，因而会限制电路性能。光刻对准的精确度和光刻对准标记的好坏密切相关，而光刻对准标记的好坏直接取决于光刻对准标记本身的光波差(即对准标记的高低差)。因此，为了使CMP制程之后的光刻工艺有精确的对准，通常会再进行一次光刻、刻蚀工艺打开光刻对准标记的区域，可是这样就增加了产品的制造成本和时间，对生产者各方都是不愿意看到的情况。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种化学机械抛光工艺后光刻对准标记的制作方法，不但可以保证后续光刻工艺的精确对准，而且可以降低生产成本，缩短制造时间。

为解决上述技术问题，本发明提供了化学机械抛光工艺后光刻对准标记的制作方法，在半导体集成电路的单元区域进行光刻、刻蚀形成注入工艺层时，利用光刻和刻蚀在半导体集成电路的光刻对准标记区域打开前层的光刻对准标记。

进一步的改进是，上述制作方法包括如下步骤：

步骤1，利用化学机械抛光工艺将半导体集成电路中浅沟槽隔离形成的氧化层磨平至氮化层；

步骤2，在半导体集成电路的氮化层表面形成光刻胶阻挡层，利用光刻、刻蚀在单元区域内形成注入工艺层，同时利用光刻和刻蚀工艺在光刻对准标记区域打开前层的光刻对准标记。

进一步的改进是，步骤1中，在化学机械抛光后的半导体集成电路表面的氮化层上淀积氧化层，然后再进行步骤2，在氧化层上形成光刻胶阻挡层并进行光刻、刻蚀工艺。

进一步的改进是，步骤2之后，去除单元区域和光刻对准标记区域的氮化层，在半导体集成电路表面先淀积介质膜，再淀积多晶硅，形成后续光刻工艺使用的对准标记。

进一步的改进是，所述介质膜为氧化层-氮化层-氧化层。

进一步的改进是，所述化学机械抛光包括表面平坦化的CMP工艺、浅沟槽隔离的CMP工艺。

本发明形成光刻对准标记的方法不需要单独增加直接打开光刻对准标记的工艺，而是利用单元区域中形成后道注入层所需的光刻、刻蚀工艺来同时形成光刻对准标记，不但可以获得良好的光刻对准标记，改善后续光刻工艺的对准精度，而且简化了制作工艺，降低了生产成本。

附图说明

图1为现有的采用一般工艺的CMP制程后形成的样品图；

图2为现有的采用改进工艺的CMP制程后形成的样品图；

图3至图6为本发明的光刻对准标记制作方法中半导体集成电路的截面示意图，所述半导体集成电路包括单元区域、外围电路区域和光刻对准标记区域；

图7为图5圆圈处的样品图；

图8为图6圆圈处的样品图，也是本发明实施例最终的光刻对准标记的样品图。

具体实施方式

下面结合附图与具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

本发明提供的化学机械抛光工艺后光刻对准标记的制作方法是在半导体集成电路的单元区域进行光刻、刻蚀形成注入工艺层时，利用光刻和刻蚀工艺打开前层的光刻对准标记。

较佳的实施例中，制作方法的具体步骤如下：

步骤1，利用化学机械抛光工艺将半导体集成电路中浅沟槽隔离形成的氧化层5磨平至氮化层4；

如图3所示，半导体集成电路包括单元区域(cell)、外围电路区域(Peripheral)和光刻对准标记区域(PH Mark area)，其中衬底1上形成有衬垫氧化层2，衬垫氧化层2上形成有多晶硅层3，多晶硅层3上形成有氮化层4；

步骤2，再次淀积氧化层6，如图4所示；