[发明专利]获取液晶显示屏最佳FLK值的调试方法及装置

说明书

本发明提供一种获取液晶显示屏最佳FLK值的调试方法及装置，通过先设定VCOM电压范围V₀～V₁，VCOM参考值V_R，采用色彩分析仪获取在V_R下对应液晶显示屏的FLK参考值F_R，再以设定程序自动获取对应当前值V_C条件下的FLK当前值F_C，将当前值F_C逐一与参考值F_R进行对比以获取FLK的最小值F_min，所以调节的一致性较好，速度更快，提高了液晶显示屏的检测效率。

技术领域

本发明涉及液晶显示屏检测技术领域，特别涉及一种获取液晶显示屏最佳FLK值的调试方法及装置。

背景技术

LCM即LCD显示模组，是指将LCD(液晶显示屏)，连接件，控制与驱动等外围电路，PCB电路板，背光源，结构件等装配在一起的组件。由于LCD中的FLK值(Flicker)直接影响后期LCM的画面显示的闪烁情形，FLK值越小，闪烁度就越小，LCD显示效果就更好，此外，现在更多的手机生产公司也希望显示屏的FLK值尽可能的小以获得更好的显示效果，所以在进行组装之前需对LCD的FLK值进行检测与调试，以筛选出质量好的LCD。

目前，大多LCD生产厂商为追求性价比，通常都是采用分别与LCD相连接的主控单元与亮度采集单元对LCD进行烧入OTP的方式来获取较佳的FLK值，提升LCD的生产良率。

上述现有技术中获取LCD最佳FLK值的调试方法，虽然具有一定的效果，但是对LCD过多烧入OTP的同时也会影响LCD的显示效果，且烧入OTP后的LCD一致性不好，VCOM需求电压范围也越来越大，此外，增加了人工与调试成本，降低生产效率，导致LCD的调试速度慢。

发明内容

基于此，本发明的目的是提供一种获取液晶显示屏最佳FLK值的调试方法及装置，通过该调试方法及装置能够快速获取液晶显示屏的最佳FLK值，且调试速度快，调试效率高。

一种获取液晶显示屏最佳FLK值的调试方法，其中，所述调试步骤为：

结合IC规格书和液晶显示屏规格书，给待测液晶显示屏设定合理VCOM电压范围V₀～V₁，并在V₀～V₁范围内选定一个值作为VCOM参考值V_R；

通过测试板点亮待测液晶显示屏，采用色彩分析仪获取在V_R下对应液晶显示屏的FLK参考值F_R；

在设定V₀～V₁范围内，向V₁的方向调节VCOM电压的当前值V_C，采用色彩分析仪测试对应VCOM电压值V_C下的FLK当前值F_C；

将每次获取的F_C与F_R进行比较；

若F_C<F_R继续向V₁方向调节V_C，至获取FLK的最小值F_min为止，

若F_C>F_R则向V₀方向调节V_C，至获取FLK的最小值F_min为止。

所述在设定V₀～V₁范围内调节电压，由程序设定自动更改，而无需手动进行调节。