[发明专利]动态随机存取存储器以及搭载其系统的测试方法有效

专利信息
申请号: 201610051207.0 申请日: 2016-01-26
公开(公告)号: CN106997784B 公开(公告)日: 2020-01-07
发明(设计)人: 张昆辉 申请(专利权)人: 华邦电子股份有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 11127 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 郭晓宇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 动态 随机存取存储器 以及 搭载 系统 测试 方法
【说明书】:

发明提供一种测试方法,用于测试搭载动态随机存取存储器的系统,上述方法包括在动态随机存取存储器操作于测试模式时,每隔一既定间隔时间,将动态随机存取存储器的不同的多个输出接脚其中之一的输出信号,或动态随机存取存储器的不同的多个输入接脚其中之一的输入信号,加入一变异量;将上述输出接脚的输出信号或上述输入接脚的输入信号,被加入上述变异量的时间以及上述变异量,记录至一测试数据;以及当上述系统失效时,依据上述测试数据,找出上述系统失效时所对应的输入接脚或输出接脚,以及变异量。

技术领域

本发明是有关测试方法,特别是有关搭载动态随机存取存储器的系统的测试方法。

背景技术

现行搭载动态随机存取存储器的系统,普遍应用于笔记本电脑、个人电脑或移动装置之中。在上述系统与所搭载的动态随机存取存储器发生相容性问题时,一般而言,无法有效找出上述相容性问题是发生在所搭载的动态随机存取存储器的哪些接脚(pin),以及上述接脚发生相容性问题的原因。

由于无法有效找出发生上述相容性问题的接脚以及原因,针对上述相容性问题的侦错过程,将会消耗许多的时间以及成本,进而对整体的研发过程造成负担。

发明内容

为了方便解决找出发生相容性问题的接脚的侦错问题,本发明提供了一种动态随机存取存储器以及搭载其系统的测试方法。

本发明提供一种动态随机存取存储器,包括多个输入接脚以及多个输出接脚;一主要电路,耦接该多个输入接脚和该多个输出接脚;以及一控制电路,在该动态随机存取存储器操作于一测试模式时,每隔一既定间隔时间,将该主要电路输出给不同的该多个输出接脚其中之一的输出信号,或该主要电路从不同的该多个输入接脚其中之一接收的输入信号,加入一变异量。其中,该控制电路记录该多个输出接脚的输出信号以及该多个输入接脚的输入信号,被加入该变异量的时间以及该变异量。

本发明提供一种搭载动态随机存取存储器的系统的测试方法,包括在该动态随机存取存储器操作于一测试模式时,每隔一既定间隔时间,将该动态随机存取存储器的不同的多个输出接脚其中之一的输出信号,或该动态随机存取存储器的不同的多个输入接脚其中之一的输入信号,加入一变异量;将该多个输出接脚的输出信号或该多个输入接脚的输入信号,被加入该变异量的时间以及该变异量,记录至一测试数据;以及当该系统失效时,依据该测试数据,找出该系统失效时所对应的输入接脚或输出接脚,以及该变异量。

在一实施例中,本发明提供的上述搭载动态随机存取存储器的系统的测试方法,更包括计算该动态随机存取存储器接收刷新信号(refresh)的一累计接收次数;以及在该累计接收次数符合一既定数量时,将该动态随机存取存储器接收该既定数量的刷新信号所需的时间,设定为该既定间隔时间。

在另一实施例中,本发明提供的上述搭载动态随机存取存储器的系统的测试方法,更包括将该系统失效时所对应的该变异量,依据一查找表,找出该动态随机存取存储器的该多个输出、输入接脚的信号,在该测试模式以外的一操作模式时,发生该系统失效时所对应的该变异量的机率。

本发明实施例可在一动态随机存取存储器操作在一测试模式时,当该动态随机存取存储器与其搭载的一电子系统,发生相容性问题或失效时,依据该动态随机存取存储器所储存的一测试数据,基于发生相容性问题或失效的时间点,找出造成问题的该动态随机存取存储器的接脚以及变异量,藉此明确定义问题发生的位置以及原因。附图说明

图1是依据本发明一实施例的动态随机存取存储器的示意图。

图2A是依据本发明一实施例的调整动态随机存取存储器的输入接脚的操作示意图。

图2B是依据本发明一实施例的调整动态随机存取存储器的输出接脚的操作示意图。

图3是依据本发明一实施例的调整动态随机存取存储器的输入接脚的延迟的时序图。

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