[发明专利]一种植物茎秆测量方法及装置

权利要求书

1.一种植物茎秆测量方法，其特征在于，包括：

S1对待测量植物样品进行图像采集；

S2根据采集的图像获取待测量植物样品的原位图像；

S3对所述原位图像进行处理获得图像数据，根据所述图像数据计算出待 测量植物样品茎秆的表型特征参数。

2.如权利要求1所述的植物茎秆测量方法，其特征在于，所述步骤S1 之前还包括：

S0射频识别待测量植物样品，获取待测量植物样品的编号。

3.如权利要求1所述的植物茎秆测量方法，其特征在于，所述步骤S1 对待测量植物样品进行图像采集包括，采用可见光侧面成像方法对待测量植 物样品进行图像采集。

4.如权利要求1所述的植物茎秆测量方法，其特征在于，所述步骤S3 根据所述图像数据计算待测量植物样品茎秆的表型特征参数具体包括：

根据所述图像数据获得茎秆表型特征参数的像素值；

根据所述茎秆表型特征参数的像素值和预先设置的参照物像素计算出茎 秆实际的表型特征参数。

5.如权利要求1所述的植物茎秆测量方法，其特征在于，所述待测量植 物样品的原位图像为多个。

6.一种植物茎秆测量装置，其特征在于，包括：

图像采集模块，用于对待测量植物样品进行图像采集；

图像获取模块，用于根据采集的图像获取待测量植物样品的原位图像；

图像处理模块，用于对所述原位图像进行处理获得图像数据；

计算模块，用于根据所述图像数据计算待测量植物样品茎秆的表型特征 参数。

7.如权利要求6所述的植物茎秆测量装置，其特征在于，还包括：

射频识别模块，用于射频识别待测量植物样品，获取待测量植物样品的 编号。

8.如权利要求6所述的植物茎秆测量装置，其特征在于，所述图像采集 模块具体用于采用可见光侧面成像方法对待测量植物样品进行图像采集。

9.如权利要求6所述的植物茎秆测量装置，其特征在于，所述计算模块 具体用于根据所述图像数据获得茎秆表型特征参数的像素值，根据所述茎秆 表型特征参数的像素值和预先设置的参照物像素计算出茎秆实际的表型特征 参数。