[发明专利]具有翘曲调节结构层的LED外延结构及其生长方法有效
申请号: | 201610047614.4 | 申请日: | 2016-01-25 |
公开(公告)号: | CN105679898B | 公开(公告)日: | 2018-11-30 |
发明(设计)人: | 马旺;王承军;曲爽;王成新;徐现刚 | 申请(专利权)人: | 山东浪潮华光光电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/12 | 分类号: | H01L33/12;H01L33/04;H01L33/00;H01L21/02 |
代理公司: | 济南日新专利代理事务所 37224 | 代理人: | 王书刚 |
地址: | 261061 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 曲调 结构 led 外延 及其 生长 方法 | ||
一种具有翘曲调节结构层的LED外延结构及其生长方法,在LED的高温GaN层和高温N型GaN层之间插入翘曲调节结构层,该结构为Si3N4/GaN/AlGaN/GaN超晶格层,该结构周期数量1‑40个,单周期厚度31‑1930nm,生长温度700‑1200℃,生长生长压力50‑300torr,其中Si3N4层和AlGaN层生长条件可以相同也可以不同,当Si3N4层和AlGaN层生长条件不同时,通过中间的GaN层过渡条件变化,然后通过调节Si3N4层厚度和SiH4流量、调节AlGaN层厚度和Al组分,进行配合,调节外延片生长过程中的翘曲程度,从而提高LED外延片产品单片片内参数均匀性,提高LED外延片良率。
技术领域
本发明涉及一种用于调节生长翘曲程度提升产品良率的LEDLED(发光二极管)的外延结构生长方法,属于LED制备技术领域。
背景技术
宽禁带半导体是继硅和砷化镓之后的第三代半导体材料,近年来越来越受到人们的重视,目前广泛研究的主要包含了III-V族与II-VI化合物半导体材料、碳化硅(SiC)和金刚石薄膜等,在蓝绿光、紫外光LED、LD、探测器和微波功率器件等方面获得了广泛的应用。由于其优良的特性和广泛的应用,受到广泛的关注。特别是Ⅲ-Ⅴ族半导体材料中的氮化镓(GaN)材料,由于其在半导体照明应力的商业化应用,成为了当今全球半导体领域的研究热点。
Ⅲ族氮化物材料包含AlN、GaN、InN和他们的合金,通过控制其组份,可使其禁带宽度从InN的0.9eV至AlN的6.2eV连续变化,对应的波长范围覆盖整个可见光区,并可延伸至紫外区域。这一类材料是直接带隙材料,并具有热导率高、发光效率高、介电常数小、化学性质稳定、硬度大和耐高温等特点,是制作激光二极管(LD)、高亮度蓝绿光发光二极管(LED)和异质结场效应晶体管(HFETs)等器件的理想材料。尤其是其中的LED器件,已在半导体照明领域获得了广泛的应用。
LED由于发光效率高、功耗低、不含有毒物质汞、绿色环保,从而赢得关注。随着发光二极管LED的发光效率的迅速改善,亮度的快速提高,LED具有越来越广阔的市场。
对于GaN蓝光LED来说,外延片产品的单片片内参数均匀性非常重要,这些参数包含波长、厚度、掺杂等。在规模化生产过程中,由于蓝宝石(Al2O3)衬底与GaN材料之间的晶格失配以及热失配,在外延生长过程中会影响LED外延片的整体翘曲程度,以致在生长量子阱区(MQW)时外延片的温场和生长状态会因自身翘曲而产生差异,所生长出来的LED外延片的波长以及电性参数单片片内将存在较大的差异,最终影响到LED产品参数的单片均匀性。
因此,有必要提出一种LED生长工艺,调节和改变MQW生长前的外延片翘曲程度,优化LED外延片的单片片内均匀性,提高LED外延片产品的单片片内参数均匀性,提高产品良率。
中国专利文献CN105070652A公开的《GaN层生长方法及所得LED外延层和LED芯片》,是在成核层上分别生长两层GaN层,通过调节这两层GaN层的生长时间、压力和温度,实现对GaN晶体的分段生长,使分段生长所得具有少许差别的GaN晶体相互配合,从而实现GaN晶体的结晶质量的提升,并减少GaN晶体与衬底晶体之间的晶格失配。该方法只是从过渡生长的手段减少晶格失配,效果一般,并不是从直接改变生长翘曲的方面进行研究,不能通过改变翘曲实现对单片片内参数均匀性的提升。
中国专利文献CN104409590A公开的《LED外延结构及其生长方法》,是一种在高温N型GaN层上生长Si3N4/GaN超晶格层和不掺杂的GaN层交替排列的过渡层,减少高温N型GaN层和发光层之间的应力。该方法并不能对MQW前外延片翘曲程度进行有效调节,且在高温N型GaN和发光区之间插入过渡层,会极大的影响LED产品的性能。
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