[发明专利]光波长检测器及使用方法

说明书

本发明涉及一种光波长检测器，其包括：一探测元件，所述探测元件用于接收待测光一测量装置，所述测量装置与所述探测元件电连接；其中，所述探测元件包括一碳纳米管结构，该碳纳米管结构包括多个碳纳米管沿同一方向延伸；所述光波长检测器进一步包括一偏振片，所述偏振片用于将待测光起偏为偏振光后入射到碳纳米管结构的部分表面，所述测量装置用于测量由于偏振光的照射在所述碳纳米管结构中产生的温度差或电势差，该偏振片与所述碳纳米管结构可相对旋转，从而改变偏振光的方向与所述碳纳米管的延伸方向之间的夹角角度，通过比较不同夹角时测量得到的温度差或电势差获得所述待测光的波长值。本发明还涉及一种光波长检测器的使用方法。

技术领域

本发明涉及一种光波长检测器及使用方法，尤其涉及一种基于碳纳米管的光波长检测器及光波长检测方法。

背景技术

对于特定波长的光究竟有什么用途，一直是人们感兴趣的话题。例如，光的颜色因为波长不同而显示不同，从而可直接利用其作为生活的指示工具。当然，根据特定光具有的特定的波长值，还可应用于更多的领域。但在研究特定波长光的应用时，能够简单、准确地测量其波长是必要的前提条件。

目前，对于特定光波长的测量方法主要有：光的干涉测波长，光的衍射测波长。但这些方法一般都需要人工操作，测量过程复杂，对操作者要求较高，测量误差较大，测量波长范围有限。上述测量波长的方法所使用的检测装置一般体积大，结构复杂。

发明内容

有鉴于此，确有必要提供一种结构简单、操作方便的光波长检测器及使用方法。

一种光波长检测器，其包括：一探测元件，所述探测元件用于接收待测光一测量装置，所述测量装置与所述探测元件电连接；其中，所述探测元件包括一碳纳米管结构，该碳纳米管结构包括多个碳纳米管沿同一方向延伸；所述光波长检测器进一步包括一偏振片，所述偏振片用于将待测光起偏为偏振光后入射到碳纳米管结构的部分表面，所述测量装置用于测量由于偏振光的照射在所述碳纳米管结构中产生的温度差或电势差，该偏振片与所述碳纳米管结构可相对旋转，从而改变偏振光的方向与所述碳纳米管的延伸方向之间的夹角角度，通过比较不同夹角时测量得到的温度差或电势差获得所述待测光的波长值。

一种光波长检测器的使用方法，其包括以下步骤：步骤S1，提供一光波长检测器，该光波长检测器为权利要求1-9中的任意一种；步骤S2，将一待测光经过偏振片起偏后照射至探测元件中的碳纳米管结构上，碳纳米管的延伸方向与偏振光的方向夹角为θ₁，通过所述测量装置测得该碳纳米管结构的电势差或温度差分别为U₁、Δt₁；步骤S3，旋转该偏振片的方向，使得碳纳米管的延伸方向与偏振光的方向的夹角为θ₂，通过该测量装置测量该碳纳米管结构的电势差或温度差分别为U₂、Δt₂；步骤S4，根据上述两次测得的电势差或温度差，和公式==，或==计算得到该待测光在夹角θ₁的穿透率T_λ1或在夹角θ₂的穿透率T_λ2，再从穿透率与波长值的数据库中直接读取获得该待测光的波长值，其中，C = T_λ2 - T_λ1，在夹角θ₁和θ₂为确定值时，C为一定值。

与现有技术相比较，本发明提供的光波长检测器具有以下优点：由于所述光波长检测器包括一偏振片和一碳纳米管结构，所述碳纳米管结构包括多根平行的碳纳米管，通过调节偏振片与碳纳米管的延伸方向即可测量光的波长，测量方法简单；由于碳纳米管经偏振光照射产生电势，起到电源作用，该光波长检测器无需设置专门的电源，结构简单。

附图说明

图1为本发明第一实施例提供的光波长检测器的结构示意图。

图2为本发明第一实施例提供的光波长检测器中碳纳米管拉膜的结构示意图。