[发明专利]特定光波长的传感器有效
申请号: | 201610042562.1 | 申请日: | 2016-01-22 |
公开(公告)号: | CN106996831B | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 张凌;邓磊;吴扬;姜开利;王佳平;范守善 | 申请(专利权)人: | 清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01J9/00 | 分类号: | G01J9/00 |
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地址: | 100084 北京市海淀区清*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 特定 波长 传感器 | ||
本发明涉及一种用于识别特定波长的传感器,包括:一光波长分析器,用于接收入射的光线信号,对该光线信号进行分析处理,并根据处理结果发送工作指令;一存储器;以及一调制器;其中,所述光波长分析器包括一光波长检测器和一信号处理模组,该光波长检测器包括一探测元件,一测量装置;所述探测元件包括一碳纳米管结构,该碳纳米管结构包括多个碳纳米管沿同一方向延伸,所述光线信号入射至该碳纳米管结构的部分表面,所述测量装置用于测量所述碳纳米管结构的电势差或温度差;所述信号处理模组与光波长检测器电连接,用于对该测量装置的测量值进行分析计算,并将计算得到的信号数据与存储器中初始信号数据作对比,并根据对比结果发送工作指令。
技术领域
本发明涉及一种用于识别特定波长的传感器,尤其涉及一种基于碳纳米管的识别特定波长的传感器。
背景技术
对于特定波长的光究竟有什么用途,一直是人们感兴趣的话题。例如,光的颜色因为波长不同而显示不同,从而可直接利用其作为生活的指示工具。当然,根据特定光具有的特定的波长值,还可应用于更多的领域,如特定波长可用于开锁装置,当波长为目标波长时,即可打开门锁。但在研究特定波长光的应用时,能够简单、准确地测量其波长是必要的前提条件。
目前,对于特定光波长的测量方法主要有:光的干涉测波长,光的衍射测波长。但这些方法一般都需要人工操作,测量过程复杂,对操作者要求较高,测量误差较大,测量波长范围有限。上述测量波长的方法所使用的检测装置一般体积大,结构复杂。
发明内容
有鉴于此,确有必要提供一种结构简单、操作方便的用于识别特定波长的传感器。
一种用于识别特定波长的传感器,其包括:一光波长分析器,用于接收入射的光线信号,对该光线信号进行分析处理,并根据处理结果发送工作指令;一存储器,用于存储光线信号数据,以提供初始信号数据作为标准数据;以及一调制器,用于向存储器中写入标准数据;其中,所述光波长分析器包括一光波长检测器和一信号处理模组,该光波长检测器包括一探测元件,一测量装置;所述探测元件包括一碳纳米管结构,该碳纳米管结构包括多个碳纳米管沿同一方向延伸,所述光线信号入射至该碳纳米管结构的部分表面,所述测量装置用于测量所述碳纳米管结构的电势差或温度差;所述信号处理模组与光波长检测器电连接,用于对该测量装置的测量值进行分析计算,并将计算得到的信号数据与存储器中初始信号数据作对比,并根据对比结果发送工作指令。
与现有技术相比较,本发明提供的用于识别特定波长的传感器具有以下优点:应用于该传感器中的光波长检测器,可通过碳纳米管结构对入射光信号进行处理得到光波长,测量方法简单;由于碳纳米管经偏振光照射产生电势,起到电源作用,该光波长检测器无需设置专门的电源,结构简单,使得所述传感器轻便、体积小。
附图说明
图1为本发明提供的用于识别特定波长的传感器的结构示意图。
图2为本发明第一实施例提供的光波长检测器的结构示意图。
图3为本发明第一实施例提供的光波长检测器中碳纳米管拉膜的结构示意图。
图4为本发明第一实施例提供的光波长检测器中碳纳米管拉膜的扫描电镜照片。
图5为本发明第一实施例提供的光波长检测器中非扭转的碳纳米管线的扫描电镜照片。
图6为本发明第一实施例提供的光波长检测器中扭转的碳纳米管线的扫描电镜照片。
图7为本发明第一实施例提供的光波长检测器中碳纳米管结构的光的穿透率与波长之间的关系图。
主要元件符号说明
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