[发明专利]一种计算机断层成像伪影校正方法及装置有效
申请号: | 201610038856.7 | 申请日: | 2016-01-21 |
公开(公告)号: | CN105528800B | 公开(公告)日: | 2017-04-05 |
发明(设计)人: | 王毅 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技有限公司 |
主分类号: | G06T11/00 | 分类号: | G06T11/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201807 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 计算机 断层 成像 校正 方法 装置 | ||
【技术领域】
本发明涉及计算机断层成像技术领域,尤其涉及一种计算机断层成像伪影的校正方法及装置。
【背景技术】
计算机断层成像是用射线对人体的特定部位按一定厚度的层面进行扫描,根据不同的人体组织对射线的吸收能力不同,对扫描数据利用计算机重建出断层面图像的技术。
在计算机断层扫描过程中,因被扫描物体中含有金属或其它高密度物质导致重建后的图像中存在的伪影称为金属伪影。金属伪影的存在会降低图像质量,并且可能会影响医生的诊断。因此,在计算机断层扫描的成像中,去金属伪影(Metal Artifact Reduction,MAR)即金属伪影校正,所要解决的就是去除由于金属的存在而引入的伪影,恢复被伪影破坏或掩盖的组织,以便于用户观察。
现有技术中,存在各种金属伪影的校正方法.这些校正方法大致可以分为迭代重建方法(迭代法)及投影插值方法(插值法)。但无论现有技术中何种形式的伪影校正,都有可能引入新的伪影,这部分新引入的伪影同样会影响图像质量,因而需要对其进行校正。
因此,需要提出一种新的计算机断层成像伪影校正方法,在现有伪影去除方法的基础上,有效抑制因伪影校正新引入伪影,进一步提高图像质量。
【发明内容】
本发明解决的是现有的计算机断层成像图像伪影校正方法实施过程中出现新引入伪影的问题。
为解决上述问题,本发明提出一种计算机断层成像伪影校正方法,包括:接收待校正图像;对所述待校正图像进行伪影校正,以获取第一校正后图像;获取待校正图像相对于第一校正后图像的误差图像;根据第一校正后图像引入伪影的程度,调整所述误差图像的权重,并从所述待校正图像中去除调整权重后的误差图像,以获取第二校正后图像;对所述待校正图像及第二校正后图像进行频率分割及融合,获得第三校正后图像。
可选地,所述第一校正后图像引入伪影的程度,由所述第一校正后图像的信息熵进行确定。
可选地,所述信息熵的获取包括:划分所述误差图像与待校正图像每个像素的邻域矩阵;调整所述误差图像像素邻域矩阵的权重,并根据调整权重后的所述误差图像像素邻域矩阵与所述待校正图像像素邻域矩阵之差获取所述信息熵。
可选地,获取使所述信息熵最小时相对应的所述误差图像邻域矩阵的权重,将该权重作为所述误差图像的权重。
可选地,根据所述误差图像中伪影去除的程度,确定所述邻域矩阵的尺寸。
可选地,根据所述待校正图像中的金属图像形态,确定所述邻域矩阵的尺寸。
可选地,所述邻域矩阵的尺寸范围为9-31单位像素。
可选地,还包括根据设定的视场对所述待校正图像、误差图像、第一校正后图像、第二校正后图像中的至少一种进行压缩。
可选地,所述频率分割及融合包括:分割出所述待校正图像的高频部分图像及所述第二校正后图像的低频部分图像,并对所述高频部分图像及低频部分图像进行融合。
本发明还提供一种计算机断层成像伪影校正装置,其特征在于,包括:
输入单元,用于接收待校正图像;第一处理单元,用于对待校正图像进行伪影校正,以生成第一校正后图像;第二处理单元,用于获取待校正图像相对于第一校正后图像的误差图像,及根据第一校正后图像引入伪影的程度,调整所述误差图像的权重,并从所述待校正图像中去除调整权重后的误差图像,以获取第二校正后图像;第三处理单元,用于获得所述待校正图像的高频部分图像及所述第二校正后图像的低频部分图像,并对所述高频部分图像及低频部分图像进行融合,获得第三校正后图像。
本发明方案根据原有伪影校正引入伪影的程度,调整误差图像的权重,并在待校正图像中去除调整权重后的误差图像以形成新的校正后图像,有效抑制了新伪影的产生,提高了图像质量;同时该方案实现过程对原伪影校正方法及装置依赖性低,因而适用范围广,可在任何可能会引入新伪影的现有金属伪影校正方法及装置基础上实现;进一步地,频率分割及融合减少了由于权重系数的差异引起的图像马赛克现象,使得校正后图像更加自然;进一步地,对图像进行压缩,及根据误差图像中伪影去除的程度对邻域矩阵进行划分,降低了系统的计算量,提升了校正速度。
【附图说明】
图1是本发明的计算机断层成像系统的结构示意图;
图2是本发明一实施例中伪影校正方法流程示意图;
图3是本发明一实施例中第一校正后图像信息熵的求取流程示意图;
图4是本发明一实施例中伪影校正装置结构示意图。
【具体实施方式】
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