[发明专利]一种直线往复式磁瓦形状测量装置有效
| 申请号: | 201610038165.7 | 申请日: | 2016-01-21 |
| 公开(公告)号: | CN105547163B | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
| 发明(设计)人: | 蒋红海;钱俊兵;杨晓京;袁锐波;罗璟;何祖顺 | 申请(专利权)人: | 昆明理工大学 |
| 主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 650093 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 直线 往复 式磁瓦 形状 测量 装置 | ||
1.一种直线往复式磁瓦形状测量装置,其特征在于:包括磁瓦传输装置(1)、磁瓦定位装置(2)、测量装置(3);
所述磁瓦传输装置(1)包括输入传输带(22)、输出传输带(23)、后直线模组(24)、前直线模组(25)、搬运机械手(26);所述输入传输带(22)与输出传输带(23)传输方向一致,所述后直线模组(24)与前直线模组(25)安装在测量装置支架(4)上,所述后直线模组(24)与前直线模组(25)输送磁瓦(29)的方向与输入传输带(22)的输送方向垂直,所述搬运机械手(26)布置在输入传输带(22)、输出传输带(23)与测量装置支架(4)之间;
所述磁瓦定位装置(2)包括后定位装置安装板(5)、测量定位装置(6)、前定位装置安装板(16)、后模组滑块(20)、前模组滑块(21);所述后定位装置安装板(5)安装在后模组滑块(20)上,所述后模组滑块(20)安装在后直线模组(24)上,所述前定位装置安装板(16)安装在前模组滑块(21)上,所述前模组滑块(21)安装在前直线模组(25)上,所述测量定位装置(6)安装在后定位装置安装板(5)和前定位装置安装板(16)上;
所述测量装置(3)包括后光源支架(7)、后位面光源(8)、顶光源(9)、顶视相机(10)、相机支架(11)、顶光源支架(12)、标准尺(13)、标准尺支架(14)、前视相机(15)、前位面光源(17)、前光源支架(18)、点光源(19)、点光源支架(30);所述后位面光源(8)安装在后光源支架(7)上,所述顶光源(9)安装在顶光源支架(12)上,所述标准尺(13)安装在标准尺支架(14)上,所述顶视相机(10)和前视相机(15)安装在相机支架(11)上,所述前位面光源(17)安装在前光源支架(18)上,所述点光源(19)安装在点光源支架(30)上,所述顶光源支架(12)安装在相机支架(11)上,所述后光源支架(7)、标准尺支架(14)、前光源支架(18)和点光源支架(30)安装在测量装置支架(4)上。
2.根据权利要求1所述的直线往复式磁瓦形状测量装置,其特征在于:所述测量定位装置(6)包括外弧测量定位装置或内弧测量定位装置;外弧测量定位装置包括外弧定位块(27)、磁瓦挡块(28);内弧测量定位装置包括内弧定位块(31)、磁瓦挡块(28);所述磁瓦挡块(28)安装在外弧定位块(27)或者内弧定位块(31)的两侧, 磁瓦(29)测量时放置在外弧定位块(27)或者内弧定位块(31)上,磁瓦(29)端面与外弧定位块(27)或者内弧定位块(31)的端面对齐。
3.根据权利要求2所述的直线往复式磁瓦形状测量装置,其特征在于:所述外弧定位块(27)的外弧定位块弧面(32)的弧面形状尺寸与磁瓦(29)的外弧面形状尺寸相同;对于由三段圆弧面组成内弧面的磁瓦(29),本发明所述内弧定位块弧面(33)的截面圆弧半径与磁瓦(29)的内弧外侧弧线(34)的半径相同;对于由单一弧面组成磁瓦内弧面的磁瓦(29),内弧定位块弧面(33)的弧面形状尺寸与磁瓦(29)的内弧面形状尺寸相同。
4.根据权利要求1所述的直线往复式磁瓦形状测量装置,其特征在于:所述测量定位装置(6)采用外弧定位块(27)测量外弧尺寸时,使用点光源(19)照明;测量定位装置(6)采用内弧定位块(31)测量内弧尺寸时,使用点光源(19)照明。
5.根据权利要求1所述的直线往复式磁瓦形状测量装置,其特征在于:所述测量定位装置(6)采用外弧定位块(27)测量内弧尺寸与采用内弧定位块(31)测量外弧尺寸时,装载在前直线模组(25)上的磁瓦(29)使用前位面光源(17)照明,装载在后直线模组(24)上的磁瓦(29)使用后位面光源(8)照明。
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