[发明专利]一种转盘式磁瓦形状测量装置有效
申请号: | 201610038164.2 | 申请日: | 2016-01-21 |
公开(公告)号: | CN105547186B | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
发明(设计)人: | 蒋红海;何祖顺;袁锐波;杨晓京;罗璟;钱俊兵 | 申请(专利权)人: | 昆明理工大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 650093 云*** | 国省代码: | 云南;53 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 转盘 式磁瓦 形状 测量 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种转盘式磁瓦形状测量装置,属于无损检测技术领域。
背景技术
目前磁瓦尺寸测量主要采用离线方式进行,在线对磁瓦的测量仅限于采用通规进行。随着电机生产企业对磁瓦尺寸精度要求的提高,磁瓦生产厂家相应也要提高磁瓦的外形尺寸测量,而适用于生产线的在线测量装置是提高测量效率的合适设备。磁瓦生产过程中内弧和外弧的圆弧半径,以及长宽尺寸是重要尺寸,但是磁瓦生产过程中,由于工艺因素,磁瓦端面和内外弧轴线的垂直度精度不高,为获得较高的测量精度,以磁瓦内弧和外弧定位来测量磁瓦形状尺寸是较好的选择,本发明所设计的工艺装备可以同时对多块磁瓦实现内弧、外弧以及长宽尺寸测量。
发明内容
本发明的目的在于,针对上述存在的问题,提供一种使用较多设备,测量效率较高,能同时对多个磁瓦的外弧、内弧以及长宽尺寸进行测量的装置。
本发明技术方案是:一种转盘式磁瓦形状测量装置,包括磁瓦传输装置1、磁瓦定位装置2、测量装置3、磁瓦翻转装置4;通过磁瓦传输装置1把磁瓦传输给磁瓦定位装置2、测量装置3进行磁瓦定位以及磁瓦的外弧、内弧的测量,其中通过磁瓦翻转装置4进行磁瓦的翻转。
所述磁瓦传输装置1包括输出传输带5、中转传输带7、二工位上料机械手8、一工位上料机械手10、输入传输带11、一工位下料机械手12、二工位下料机械手14;所述一工位上料机械手10安装在输入传输带11的出料处,所述输入传输带11的出料处靠近外弧测量定位装置15,所述一工位下料机械手12安装在中转传输带7的入料处,所述中转传输带7的出料处靠近内弧测量定位装置32,所述二工位上料机械手8安装在中转传输带7的出料处,所述二工位下料机械手14安装在输出传输带5的入料处;一工位上料机械手10把磁瓦52从输入传输带11上吸取起来,放置在外弧测量定位装置15上,一工位下料机械手12把磁瓦52从外弧测量定位装置15吸取到翻转传输带44上,二工位上料机械手8把磁瓦52从中转传输带7上吸取到内弧测量定位装置32上,二工位下料机械手14把磁瓦52从内弧测量定位装置32吸取到输出传输带5上;
所述磁瓦定位装置2包括设备支架13、外弧测量定位装置15、转盘17、同步带18、主动同步带轮19、电机支架20、转盘电机21、支撑轴22、转盘轴承33、从动同步带轮34、内弧测量定位装置32;所述外弧测量定位装置15安装在一工位9的转盘17上,所述内弧测量定位装置32安装在二工位6的转盘17上,所述一工位9的转盘17通过第一转盘轴承33连接在第一支撑轴22上,所述二工位6的转盘17通过第二转盘轴承33连接在第二支撑轴22上,一工位9的转盘17和二工位6的转盘17上均安装有同步带18、主动同步带轮19、电机支架20、转盘电机21、支撑轴22;所述同步带18连接主动同步带轮19和安装在一工位9的转盘17和二工位6的转盘17上的从动同步带轮34,所述主动同步带轮19与转盘电机21的输出轴相连,所述第一支撑轴22、第二支撑轴22分别安装在第一设备支架13、第二设备支架13上;一工位9的转盘17和二工位6的转盘17上转盘电机21的输出轴旋转,均经主动同步带轮19、同步带18和从动同步带轮34传递动力,拖动安装在支撑轴22上的转盘17旋转,进而带动一工位9的转盘17和二工位6的转盘17上的外弧测量定位装置15和内弧测量定位装置32旋转;
所述测量装置3包括第一光源安装板16、第二光源安装板16、外弧测量相机23、外弧测量相机支架24、内弧测量相机支架25、内弧测量相机26、长宽测量光源27、长宽测量相机28、标准尺支架29、标准尺30、第一面光源31、第二面光源31;所述第一光源安装板16、第二光源安装板16分别安装在第一支撑轴22、第二支撑轴22上,所述第一面光源31、第二面光源31分别安装在第一光源安装板16、第二光源安装板16上,所述外弧测量相机23安装在外弧测量相机支架24上,所述内弧测量相机26安装在内弧测量相机支架25上,所述外弧测量相机支架24和内弧测量相机支架25安装在设备支架13上,所述长宽测量光源27和长宽测量相机28安装在内弧测量相机支架25上,所述标准尺30安装在标准尺支架29上,所述标准尺支架29安装再一工位9的转盘17和二工位6的转盘17上,所述标准尺30与磁瓦52端面对齐;标准尺30上带有标准圆,标准尺30与磁瓦52的端面在一个平面,标准尺30是用来校正相机轴线与磁瓦轴线之间的平行度误差的;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昆明理工大学,未经昆明理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610038164.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:车轮跳动度自动测量机
- 下一篇:一种复位被测非球面空间位置的调整方法