[发明专利]双沟宽脊型半导体光放大器及其制备方法在审
申请号: | 201610037070.3 | 申请日: | 2016-01-20 |
公开(公告)号: | CN105514801A | 公开(公告)日: | 2016-04-20 |
发明(设计)人: | 于丽娟;刘建国;祝宁华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01S5/343 | 分类号: | H01S5/343 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双沟宽脊型 半导体 放大器 及其 制备 方法 | ||
1.一种双沟宽脊型半导体光放大器,包括衬底以及生长其上的外延 层,外延层上部包括n型波导层、n型波导层上部的有源区量子阱层、有 源区量子阱层上部的p型包层和欧姆接触层,其特征在于:
在所述欧姆接触层部分区域垂直向下刻蚀至n型波导层中,形成双沟 限制的脊型结构,所述双沟为两条互相平行的沟槽。
2.根据权利要求1所述的双沟宽脊型半导体光放大器,其特征在于, 所述衬底为矩形衬底,所述沟槽在衬底上的投影为平行四边形且与所述矩 形之间的倾角为1-10°。
3.根据权利要求2所述的双沟宽脊型半导体光放大器,其特征在于, 所述倾角为5°。
4.根据权利要求1所述的双沟宽脊型半导体光放大器,其特征在于, 所述脊型结构的宽度与所述脊型波导的厚度近似相等。
5.根据权利要求1所述的双沟宽脊型半导体光放大器,其特征在于, 所述n型波导层厚度为4μm以上。
6.根据权利要求1所述的双沟宽脊型半导体光放大器,其特征在于, 所述有源量子阱层的折射率大于所述n型波导层和p型包层的折射率。
7.根据权利要求1所述的双沟宽脊型半导体光放大器,其特征在于, 光放大器使用的波长为1.55μm。
8.权利要求1-7任意一项所述光放大器与激光器、探测器或调制器的 集成应用。
9.一种双沟宽脊型半导体光放大器的制备方法,包括以下步骤:
在衬底上生长含波导层的多层外延层,制成外延片;
在上述外延片上光刻出倾角1-10°的双沟条形,将外延片腐蚀到波导 层,形成脊形波导,使得脊型的宽度等于波导的厚度。
10.根据权利要求9所述的双沟宽脊型半导体光放大器的制备方法, 其特征在于,为保持侧墙垂直于水平衬底,采用干法和湿法腐蚀相结合的 方法制备脊型波导。
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