[发明专利]一种检测T组件热性能的方法

说明书

本发明公开了一种检测T组件热性能的方法及装置，所述方法包括如下步骤：步骤101，确定T组件壳体的表面传热系数；步骤102，在ANSYS软件中模拟所述T组件在工作中的温度分布情况。本发明利用逼近的方法确定合理的T组件壳体的表面传热系数，然后在ANSYS软件中模拟所述T组件在工作中的温度分布情况，该方法能够有效且简便地分析不同散热方式下T组件的温度分布，进而采用合理的方式提高T组件的热性能。

技术领域

本发明属于电子器件热分析技术领域，特别是涉及一种检测T组件热性能的方法。

背景技术

近年来，随着科技的进步和电子对抗技术的发展，国防、卫星通信和移动通信都对相控阵天线的要求越来越高，这也对应用于相控阵天线上的单发型组件，即T组件提出了更高的要求。在相控阵天线工作过程中，T组件会产生大量的热量，使得T组件温度升高，从而大幅降低了T组件的性能，这就要求设计人员在设计T组件的过程中必须对其散热情况进行模拟分析。

基于有限元法的ANSYS软件为设计人员提供了一个很好的热分析平台。ANSYS进行热分析的基本原理是先将所处理的对象划分成有限个单元(包含若干节点)，然后根据能量守恒原理求解一定边界条件和初始条件下每一节点处的热平衡方程，由此计算出各节点温度，继而进一步求解出其他相关量。

在利用ANSYS软件检测T组件的热性能的过程中，需要确定T组件壳体的表面传热系数，只有确定了合理的T组件壳体的表面传热系数，设计人员才能可靠地通过ANSYS分析T组件的产热情况、温度分布情况，进而研究采用何种散热方式使得T组件工作在合理的温度范围内，从而为T组件的设计提供了一个可靠的热学依据。

但是，现有技术无法准确且简单地确定T组件壳体的表面传热系数，使得无法准确地检测T组件的热性能。

发明内容

本发明的目的是提供一种检测T组件热性能的方法及装置，以解决现有技术T组件壳体的表面传热系数的确定误差较大，使得无法准确地检测T组件的热性能的技术问题。

为了实现上述目的，本发明提供了一种检测T组件热性能的方法，包括如下步骤：

步骤101，确定T组件壳体的表面传热系数；

步骤102，在ANSYS软件中模拟所述T组件在工作中的温度分布情况；

本发明检测T组件热性能的方法，进一步，其中所述步骤101包括如下步骤：

步骤A，在空气的传热系数范围内给定一个T组件壳体的表面传热系数初始值，进而利用ANSYS软件分析壳体的温度分布和热流密度分布，根据传热学的对流传热特征关联式获得表面传热系数的计算值；

步骤B，比较所述计算值和初始值之间的误差，如果误差较大，则把所述计算值设置为新的初始值，重复步骤A中的热分析和计算，直至所述计算值和所述新的初始值的误差在可接受的范围内；

步骤C，将所述计算值确定为所述T组件壳体的表面传热系数。

本发明检测T组件热性能的方法，进一步，其中所述步骤102包括如下步骤：

步骤D，将所述T组件的三维结构图导入所述ANSYS软件；

步骤E，在所述ANSYS软件中给所述T组件的三维结构添加热载荷并输入所述表面传热系数；

步骤F，获取所述T组件的温度分布情况。

本发明检测T组件热性能的方法，进一步，所述T组件的三维结构图为x-t格式。

本发明检测T组件热性能的方法，进一步，还包括如下步骤：

步骤103，根据所述T组件的温度分布情况判定所述T组件的热性能。